RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Model-Based Expert System for Troubleshooting a Large Environmental Chamber
Costianes, P. N.,Emhart, K. Y. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--2 No.-
A Dry Laser-Assisted Process for the Removal of Surface Contamination
Engelsberg, A. C. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
The Role of Hydrogen Peroxide in the SC2 Clean
Hurd, T. Q.,Mertens, P. W.,Schmidt, H. F.,Ditter, IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
Properties of Silicon/Water/IPA Interface Relevant to Wafer Processing
Jeon, J. S.,Raghavan, S. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
Application of API-TOF-MS to the Analysis of Ultra High Purity Gases
Markides, K. E. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
An Integrated Approach to Understanding Moisture Behavior in UHP Gas Delivery Systems: Component Testing and Computer Simulations
Coronell, D. G.,Johnson, A. D.,Chen, M. S. K.,Ketk IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
Development of a New APIMS for the Detection of Trace Impurities in Special Gases
Mitsui, Y.,Irie, T.,Iijima, S.,Mizokami, K. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
Analysis of Wet Chemical and Water Consumption Costs Versus a Non-Reactive, Dry Gas-Phase Cleaning Technology
Hydrofluoric Generation/Regeneration Unit for the Production and Reclamation of Semiconductor-Grade HF Solutions of Any Concentration, for Use with Wet Benches in the Manufacture of Semiconductor Wafers
Matthews, R. R. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
The Behavior of Particle Clouds Near Vertically Oriented Wafers in a Capacitively Coupled RF Discharge
O'Hanlon, J. F.,Kang, J. IES 1994 ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENT Vol.40--1 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료