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Single-Crystalline and Bamboo Al Lines Fabricated by Graphoepitaxy Microstructure and 1/f Noise Measurements
Van Den Homberg, Marc J. C.,Verbruggen, A. H.,Alke unknown 1996 Materials reliability in microelectronics Vol.6 No.-
A new Digital-to-Analogue converter design technique for HiFi applications
Reefman, D., van den Homberg, J., van Tuijl, E., B Audio Engineering Society; 1999 2003 PREPRINTS- AUDIO ENGINEERING SOCIETY Vol.5846 No.7
Current Dependence of Reversible Electromigration Induced Resistance Changes in Short Al Lines and Interpretation of Irreversible Effects
Verbruggen, A. H.,Van Den Homberg, M. J. C.,Kalkma unknown 1996 Materials reliability in microelectronics Vol.6 No.-
3.4: Oscillators II A Universal 0.03 mm^2 One Pin Crystal Oscillator in CMOS
van den Homberg, J. A. T. M. Editions Frontiers 1998 PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID STATE CIRCUITS C Vol.24 No.-
Bridging the information gap of disaster responders by optimizing data selection using cost and quality
van den Homberg, Marc, Monné, Robert, Spruit, Marc Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Computers & geosciences Vol.120 No.-
Curved Crystal Lattice in Resolidfied Submicron Al Lines
Van den Homberg, M. J. C.,Alkemade, P. F. A.,Radel American Institute of Physics 1997 Applied Physics Letters Vol.70 No.3
1/f noise in mono- and polycrystalline aluminum
Van den Homberg, M. J. C. AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 1998 Physical Review B Vol.57 No.1
Control of the Microstructure of Al Metallization by Graphoepitaxy
Van Den Homberg, M. J. C.,Alkemade, P. F. A.,Hurd, Materials Research Society 1995 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.391 No.-
Single-Crystalline and Bamboo Al Lines Fabricated by Graphoepitaxy: Microstructure and 1/f Noise Measurements
Van den Homberg, M. J. C. 00 1996 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.428 No.-
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