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Optical spectroscopy for in situ characterisation of semiconductor interfaces and layers
Zahn, D. R. T Springer International 1997 Fresenius' journal of analytical chemistry Vol.358 No.1
Transport gap of organic semiconductors in organic modified Schottky contacts
Zahn, D. R., Kampen, T. U., Mendez, H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Applied Surface Science Vol.212-213 No.-
In Situ Raman Monitoring of the Molecular Beam Epitaxial Growth of Gallium Nitride
Zahn, D. R. T. JOHN WILEY & SONS LTD 1997 Journal of Raman Spectroscopy Vol.28 No.10
Raman monitoring of wide bandgap MBE growth
Zahn, D. R. T. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1998 Applied Surface Science Vol.123-124 No.-
Organic layers on silicon with potential application in hybrid solar cells
Zahn, D. R., Gorgoi, M., Gordan, O. D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Solar Energy Vol.80 No.6
The growth of cubic CdS on InP(110) studied in situ by Raman spectroscopy
Zahn, D. R. T.,Maierhofer, Ch.,Winter, A.,Reckzüge AVS: Science & Technology of Materials, Interfaces, and Processing 1991 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.9 No.4
Chemistry and Morphological Properties of Metal Interfaces to Organic Semiconductors
Zahn, D. R. T., Salvan, G., Gavrila, G., Paez, B. Vieweg; 1999 2005 ADVANCES IN SOLID STATE PHYSICS -PERGAMON PRESS TH Vol.45 No.-
Investigation of bio-organic/inorganic semiconductor interfaces
Zahn, D. R. T., Seifert, S., Gavrila, G., Braun, W INOE & INFM 2007 JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS Vol.9 No.3
Biomolecular Layers on Silicon Studied by Optical Spectroscopy
Zahn, D. R. T., Silaghi, S. D. Vieweg; 1999 2005 ADVANCES IN SOLID STATE PHYSICS -PERGAMON PRESS TH Vol.45 No.-
Characterization of II-VI Structures by Raman Spectroscopy
Zahn, D. R. T.,Geurts, J.,Richter, W. Trans Tech Publications 1994 Materials Science Forum Vol.182-184 No.-
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