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X. Oriols, J. Sune, F. Martin, X. Aymerich American Institute of Physics 1995 Journal of Applied Physics Vol.78 No.3
High-frequency behavior of the Datta-Das spin transistor (3 pages)
Lopez, H., Oriols, X., Sune, J., Cartoixa, X. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2008 Applied Physics Letters Vol.93 No.19
Spin-dependent injection model for Monte Carlo device simulation (6 pages)
Lopez, H., Oriols, X., Sune, J., Cartoixa, X. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2008 Journal of Applied Physics Vol.104 No.7
Many-particle transport in the channel of quantum wire double-gate field-effect transistors with charged atomistic impurities (11 pages)
Albareda, G., Saura, X., Oriols, X., Sune, J. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2010 Journal of Applied Physics Vol.108 No.4
Towards the explicit computation of Bohm velocities associated to N electron wave functions with arbitrary spin orientations
Alarc n, A., Cartoix, X., Oriols, X. John Wiley & Sons, Ltd 2010 Physica Status Solidi C Vol.7 No.11-12
Computation of many-particle quantum trajectories with exchange interaction: application to the simulation of nanoelectronic devices
Alarcon, A., Yaro, S., Cartoixa, X., Oriols, X. IOP PUBLISHING LTD 2013 Journal of Physics, Condensed Matter Vol.25 No.32
Approach to study the noise properties in nanoscale electronic devices
X. Oriols, F. Martin, J. Sune American Institute of Physics 2001 Applied Physics Letters Vol.79 No.11
Shot Noise in Mesoscopic Systems within the First Quantization Formalism: A De Broglie-Bohm Wave-Particle Description
Oriols, X. IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2005 AIP Conference Proceedings Series Vol.800 No.-
Quantum Monte Carlo Simulation of Tunneling Devices Using Bohm Trajectories
Oriols, X. ACADEMIC VERLAG GMBH 1997 Physica status solidi. B Vol.204 No.1
An electron injection model for time-dependent simulators of nanoscale devices with electron confinement: Application to the comparison of the intrinsic noise of 3D-, 2D- and 1D-ballistic transistors
Oriols, X., Fernandez-Diaz, E., Alvarez, A., Alarc Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Solid-State Electronics Vol.51 No.2
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