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Wrobel, F., Vaille, J. R., Pantel, D., Dilillo, L. IEEE; 1999 2013 IEEE transactions on nuclear science Vol.60 No.5
Hafnium and Uranium Contributions to Soft Error Rate at Ground Level
Wrobel, F., Gasiot, J., Saigne, F. IEEE; 1999 2008 IEEE transactions on nuclear science Vol.55 No.6
A calculation method to estimate single event upset cross section
Wrobel, F., Touboul, A.D., Pouget, V., Dilillo, L. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 Microelectronics and reliability Vol.76 No.-
The electron energy dependence of the TL response for CVD diamonds
Wrobel, F., Serrano, B., Benabdesselam, M., Iaccon NUCLEAR TECHNOLOGY PUBLISHING 2006 Radiation Protection Dosimeetry Vol.119 No.1-4
Kerma rate effects on thermoluminescent response of CVD diamond
Wrobel, F., Benabdesselam, M., Iacconi, P., Mady, NUCLEAR TECHNOLOGY PUBLISHING 2006 Radiation Protection Dosimeetry Vol.119 No.1-4
Methodology to Compute Neutron-Induced Alphas Contribution on the SEU Cross Section in Sensitive RAMs
Wrobel, F., Palau, J.-M., Iacconi, P., Palau, M.-C Institute of Electrical and Electronics Engineers 2004 IEEE transactions on nuclear science Vol.51 No.6
Proton Flux Anisotropy in the Atmosphere: Experiment and Modeling
Wrobel, F., Vaille, J.-R., Pantel, D., Dilillo, L. IEEE; 1999 2013 IEEE transactions on nuclear science Vol.60 No.4
Contribution of SiO~2 in Neutron-Induced SEU in SRAMs
Wrobel, F.,Palau, J.-M.,Calvet, M.-C.,Iacconi, P. IEEE 2003 IEEE transactions on nuclear science Vol.50 No.6
Wrobel, F., Palau, J.-M., Calvet, M.-C., Iacconi, IEEE; 1999 2003 IEEE transactions on nuclear science Vol.50 No.1
Simulation of Nucleon-Induced Nuclear Reactions in a Simplified SRAM Structure: Scaling Effects on SEU and MBU Cross Sections
Wrobel, F., Palau, J.-M., Calvet, M.-C., Bersillon IEEE; 1999 2001 IEEE transactions on nuclear science Vol.48 No.6/1
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