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Wergin, C., Neveling, P. Blackwell Publishing Ltd. 2010 Anthropology news Vol.51 No.8
Use of Low Temperature Scanning Electron Microscopy to Examine Snow Crystals
Wergin, W. P., Erbe, E. F. Les Editions de Physique 1994 ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS- Vol.3 No.-
Use of platinum shadowing and magnetron sputter coating in an Oxford Cryotrans system to increase low temperature resolution of biological samples in a Hitachi field-emission SEM
Wergin, W. P.,Erbe, E. F.,Robins, A. San Francisco Press 1993 PROCEEDINGS OF THE ANNUAL MEETING- ELECTRON MICROS Vol.51 No.-
Platinum shadowing, complementary imaging, and stereo analysis: Techniques developed for TEM can now be used to increase the resolution of frozen hydrated specimens in a SEM
Wergin, W. P.,Erbe, E. F. San Francisco Press 1993 PROCEEDINGS OF THE ANNUAL MEETING- ELECTRON MICROS Vol.51 No.-
Evaluating Administrative Services and Programs: Making the Process More Useful.
Wergin, Jon F.,Braskamp, Larry A. Jossey-Bass 1987 New directions for institutional research Vol.- No.56
Irregular Snow Crystals: Structural Features as Revealed by Low Temperature Scanning Electron Microscopy
Wergin, W. P., Rango, A., Foster, J., Erbe, E. F. FAMS INC 2002 SCANNING -NEW YORK AND BADEN BADEN THEN MAHWAH- Vol.24 No.5
Use of video (light) microscopy and low temperature scanning electron microscopy to observe identical frozen specimens
Wergin, W. P., Erbe, E. F., Rango, A. Institute of Physics Pub 1998 ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS- Vol.14 No.4
Zwischen Strukturalismus und Kritischer Theorie: Das 'Wortwerden des Fleisches' in den Ästhetikkonzeptionen Mukarovskýs, Benjamins und Adornos
WERGIN, ULRICH J. B. Metzlersche Verlagsbuchhandlung, etc. 1985 Deutsche Vierteljahrsschrift für Literaturwissensc Vol.59 No.3
All landscape is collaborative: re-mobilizing care and concern on a damaged planet
Wergin, Carsten Taylor & Francis 2022 INNOVATION Vol.35 No.3
Observations of thick and thin sections in a field-emission SEM
Wergin, W. P., Roy, S., Erbe, E. F., Murphy, C. A. San Francisco Press 1994 PROCEEDINGS OF THE ANNUAL MEETING- ELECTRON MICROS Vol.- No.52
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