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Vandervorst, M. OXFORD UNIVER PRESS 1998 Human reproduction Vol.13 No.11
EXLE-SIMS: Dramatically Enhanced Accuracy for Dose Loss Metrology
Vandervorst, W., Vos, R., Salima, A.J., Merkulov, AIP American Institute of Physics 2008 AIP Conference Proceedings Series Vol.1066 No.-
Dopant/carrier profiling for 3D-structures
Vandervorst, W., Schulze, A., Kambham, A. K., Mody John Wiley & Sons, Ltd 2014 Physica Status Solidi C Vol.11 No.1
USJ Metrology: From 0D to 3D Analysis
Vandervorst, W. IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2007 AIP Conference Proceedings Series Vol.931 No.-
One- and Two-Dimensional Dopant/Carrier Profiling for ULSI
Vandervorst, W.,Clarysse, T.,De Wolf, P.,Trenkler, American Institute of Physics 1998 AIP Conference Proceedings Series Vol.449 No.-
Towards Routine, Quantitative Two-Dimensional Carrier Profiling with Scanning Spreading Resistance Microscopy
Vandervorst, W.,Eyben, P.,Callewaert, S.,Hantschel American Institute of Physics 2001 AIP Conference Proceedings Series Vol.550 No.-
Conformal Doping of FINFETs: A Fabrication and Metrology Challenge
Vandervorst, W., Everaert, J.L., Rosseel, E., Jurc AIP American Institute of Physics 2008 AIP Conference Proceedings Series Vol.1066 No.-
Metrology for Nanoelectronics: Challenges and Solutions
Vandervorst, W. Pennington, N.J.; Electrochemical Society 2009 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.216^T^H No.4
Advanced characterisation: An indispensable tool for understanding ultra clean processing
Vandervorst, W.,Bender, H.,Storm, W.,Heyns, M. Elsevier 1995 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.28 No.1-4
Calculation of the Internal Mechanical Response of Sheep to Blast Loading
Vandervorst, M., Stuhlmiller, J., Dodd, K.T., Phil unknown 2006 MABS -CD-ROM EDITION- Vol.1-19 No.-
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