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Tripathy, Manas Ranjan IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 IEEE transactions on electron devices Vol.67 No.3
Improved estimation of common location of two exponential populations with order restricted scale parameters using censored samples
Tripathy, Manas Ranjan Taylor & Francis 2018 Communications in statistics Simulation and comput Vol.47 No.9
III-V/Si staggered heterojunction based source-pocket engineered vertical TFETs for low power applications
Tripathy, Manas Ranjan, Singh, Ashish Kumar, Baral Elsevier Science B.V., Amsterdam 2020 Superlattices and microstructures Vol.142 No.-
Impact of heterogeneous gate dielectric on DC, RF and circuit-level performance of source-pocket engineered Ge/Si heterojunction vertical TFET
Tripathy, Manas Ranjan,Singh, Ashish Kumar,Samad, IOP Publishing 2020 Semiconductor science and technology Vol.35 No.10
Equivariant estimation of common mean of several normal populations
Tripathy, Manas Ranjan, Kumar, Somesh Taylor & Francis 2015 Journal of statistical computation and simulation Vol.85 No.18
A Note on Estimation of a Distribution Function in a Nonparametric Set-up Using Stein's Shrinkage Estimation Technique
Tripathy, Manas Ranjan, Pal, Nabendu Taylor & Francis 2015 Communications in statistics Simulation and comput Vol.44 No.10
Estimating common shape parameter of two gamma populations: A simulation study
Tripathy, Manas Ranjan, Nagamani, Nadiminti Taylor & Francis 2017 JOURNAL OF STATISTICS AND MANAGEMENT SYSTEMS Vol.20 No.3
Estimating quantiles of several normal populations with a common mean
Tripathy, Manas Ranjan, Kumar, Somesh, Jena, Adars Taylor & Francis 2017 Communications in Statistics Vol.46 No.11
Lateral and Vertical Gate Oxide Stacking Impact on Noise Margins and Delays for the 8T SRAM Designed With Source Pocket Engineered GaSb/Si Heterojunction Vertical TFET: A Reliability Study
Tripathy, Manas Ranjan, Jit, Satyabrata IEEE 2021 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABIL Vol.21 No.3
A Note on Estimation of a Distribution Function in a Nonparametric Set-up Using Stein’s Shrinkage Estimation Technique
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