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Beauchene, T., Tremouilles, D., Lewis, D., Perdu, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Microelectronics and reliability Vol.43 No.9-11
ESD Defect Localization and Analysis Using Pulsed OBIC Techniques
Beauchene, T., Lewis, D., Tremouilles, D., Essely, Pennington, NJ.:; Electrochemical Society, 2003 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.- No.9
Solving ESD Protection Latchup Guard Rings Issue During Electrostatic Discharge (ESD) Events
Tremouilles, D.,Bafleur, M.,Bertrand, G.,Nolhier, IEEE 2003 Proceedings of the ... Bipolar/BiCMOS Circuits and Vol.- No.-
7A.5 Understanding the Optimization of Sub-45nm FinFET Devices for ESD Applications
Tremouilles, D., Thijs, S., Groeseneken, G., Russ, unknown 2007 ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMP Vol.29 No.-
Transient voltage overshoot in TLP testing - Real or artifact?
Tremouilles, D., Thijs, S., Roussel, P., Natarajan Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Microelectronics and reliability Vol.47 No.7
Latch-Up Ring Design Guidelines to Improve Electrostatic Discharge (ESD) Protection Scheme Efficiency
Tremouilles, D., Bafleur, M., Bertrand, G., Nolhie IEEE; 1998 2004 IEEE journal of solid-state circuits Vol.39 No.10
Transient-TLP (T-TLP): A Simple Method for Accurate ESD Protection Transient Behavior Measurement
Tremouilles, D., Mauran, N., Nolhier, N., Arbess, unknown 2013 ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMP Vol.2013 No.-
2B.2 Transient Voltage Overshoot in TLP testing - Real or Artifact?
Tremouilles, D., Thijs, S., Roussel, P., Natarajan unknown 2005 ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMP Vol.2005 No.-
Design Guidelines to Achieve a Very High ESD Robustness in a Self-Biased NPN
Tremouilles, D., Bertrand, G., Lescouzeres, L., Ba unknown 2002 ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMP Vol.- No.24
TCAD and SPICE Modeling Help Solve ESD Protection Issues in Analog CMOS Technology
Tremouilles, D.,Bertrand, G.,Bafleur, M.,Beaudoin, IEEE 2002 INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS Vol.23 No.2
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