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Travaly, Y. AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2000 Physical Review B Vol.61 No.11
Preface
Travaly, Y., Beyer, G. P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.84 No.11
Characterization of atomic layer deposited nanoscale structure on dense dielectric substrates by X-ray reflectivity
Travaly, Y., Schuhmacher, J., Hoyas, A. M., Abell, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.82 No.3-4
Characterization of PVD TaN and ALD WN~xC~y Copper Diffusion Barriers on a Porous CVD Low-k Material
Travaly, Y., Kemeling, N., Maenhoudt, M., Peeters, Warrendale, PA:; Materials Research Society, 2003 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Travaly, Y., Detavernier, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.88 No.5
A novel approach to resistivity and interconnect modeling
Travaly, Y., Bamal, M., Carbonell, L., Iacopi, F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.83 No.11-12
Improvement of the Electrical Performance of Cu/Aurora® ULK Interconnects Using an Advanced BEOL Integration Scheme
Travaly, Y., Ikeda, A., Tokei, Z., Hendrickx, D., Materials Research Society, 2005 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
An Experimental Study of Atomic-Layer-Deposited Films on Dielectric Substrates With Different Porosity
Travaly, Y., Schuhmacher, J., Mannaert, G., Baklan Materials Research Society, 2005 ADVANCED METALLIZATION CONFERENCE IN Vol.- No.-
Static SIMS Investigation of Metal/Polymer Interfaces
Travaly, Y., Bertrand, P. Wiley 1994 Surface and interface analysis Vol.23 No.5
Interface characterization of nanoscale laminate structures on dense dielectric substrates by x-ray reflectivity (9 pages)
Travaly, Y., Schuhmacher, J., Hoyas, A. M., Van Ho AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2005 Journal of Applied Physics Vol.97 No.8
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