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Fullerite C60 as electron-beam resist for `dry' nanolithography
Shnitov, V. V., Mikoushkin, V. M., Gordeev, Y. S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.69 No.2-4
Valence Band Structure Engineering in Graphene Derivatives
Shnitov, Vladimir V., Rabchinskii, Maxim K., Brzhe John Wiley & Sons, Ltd 2021 Small Vol.17 No.52
Single and Collective Electron Excitations in the Solid C~6~0F~1~8
Shnitov, V. V., Mikoushkin, V. M., Gordeev, Yu. S. Taylor & Francis Group 2006 Fullerenes, Nanotubes, and Carbon Nanostructures Vol.14 No.2-3
Dielectric Constants of Modified C60 Extracted from Reflection-Electron-Energy-Loss Spectroscopy Data
Shnitov, V. V. Taylor & Francis 2008 Fullerenes, Nanotubes, and Carbon Nanostructures Vol.16 No.5-6
Destruction of Solid С60F18 by Electron Beam
Shnitov, V. V., Mikoushkin, V. M., Gordeev, Y., Bo Taylor & Francis 2010 Fullerenes, Nanotubes, and Carbon Nanostructures Vol.18 No.4-6
Analysis of Fullerite C60 Electron Induced Modification in Terms of Effective Destruction Cross-section
Shnitov, V.V., Mikoushkin, V.M. Taylor & Francis 2012 Fullerenes, Nanotubes, and Carbon Nanostructures Vol.20 No.4-7
Investigation of the Extent, Rate, and Mechanisms of Electron-Stimulated Modification of the C~6~0 Fullerite by EELS
Shnitov, V. V., Mikushkin, V. M., Bryzgalov, V. V. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2002 Physics of the solid state Vol.44 No.3
Size confinement effect in graphene grown on 6H-SiC (0001) substrate
Mikoushkin, V.M., Shnitov, V.V., Lebedev, A.A., Le Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Carbon Vol.86 No.-
Graphene oxide conversion into controllably carboxylated graphene layers via photoreduction process in the inert atmosphere
Rabchinskii, Maxim K., Shnitov, Vladimir V., Stoly Taylor & Francis 2020 Fullerenes, Nanotubes, and Carbon Nanostructures Vol.28 No.3
Valence band electronic structure of C60F18 and C60F36 studied by photoelectron spectroscopy
Mikoushkin, V. M., Shnitov, V. V., Bryzgalov, V. V Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Journal of electron spectroscopy and related pheno Vol.168 No.1-3
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