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Shah-A,Sauvain-E,Hubin-J,Pipoz-P,Hof-C unknown 1997 Philosophical Magazine B Vol.75 No.6
CHARACTERIZATION OF A-GE-H WITH THE STEADY-STATE PHOTOCARRIER GRATING MEASUREMENT
E. Sauvain, J. H. Chen American Institute of Physics 1994 Journal of Applied Physics Vol.75 No.10
Multiphoton micrometer-scale photoetching in silicate-based glasses
Sauvain, E. OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1995 Optics letters Vol.20 No.3
DEPENDENCE OF THE LIGHT-INDUCED DEGRADATION KINETICS OF PHOTOCONDUCTIVITY AND AMBIPOLAR DIFFUSION LENGTH AS A FUNCTION OF DOPING LEVEL IN A-SI-H
E. Sauvain, P. Pipoz, A. Shah, J. Hubin American Institute of Physics 1994 Journal of Applied Physics Vol.75 No.3
Evolution of the microstructure in microcrystalline silicon prepared by very high frequency glow-discharge using hydrogen dilution
E. Vallat-Sauvain, U. Kroll, J. Meier, A. Shah, J. American Institute of Physics 2000 Journal of Applied Physics Vol.87 No.6
Microstructure and surface roughness of microcrystalline silicon prepared by very high frequency-glow discharge using hydrogen dilution
Vallat-Sauvain, E. ELSEVIER SCIENCE DIVISION 2000 Journal of non-crystalline solids Vol.266-269 No.-
Determination of Raman emission cross-section ratio in hydrogenated microcrystalline silicon
Vallat-Sauvain, E., Droz, C., Meillaud, F., Bailat Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Journal of non-crystalline solids Vol.352 No.9-20
Limiting overdiagnosis of low-risk prostate cancer through an evaluation of the predictive value of transrectal and power Doppler ultrasonography
Sauvain, J. L., Sauvain, E., Papavero, R., Louis, Springer Science + Business Media 2016 JOURNAL OF ULTRASOUND Vol.19 No.4
Role de l'echo-Doppler puissance dans la detection des cancers a bas risque de la prostate
Sauvain, J.-L., Sauvain, E., Rohmer, P., Louis, D. ELSEVIER 2013 Journal de Radiologie Diagnostique et Intervention Vol.94 No.1
Influence of the substrate's surface morphology and chemical nature on the nucleation and growth of microcrystalline silicon
Vallat-Sauvain, E., Bailat, J., Meier, J., Niquill Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 Thin Solid Films Vol.485 No.1-2
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