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The image force effect on the barrier height in MOS structures: correlation of the corrected barrier height with temperature and the oxide thickness
Salace, G. Pergamon; 1999 2000 Microelectronics and reliability Vol.40 No.4-5
Inelastic electron tunneling spectroscopy: Capabilities and limitations in metal-oxide-semiconductor devices
Salace, G., Petit, C., Vuillaume, D. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2002 Journal of Applied Physics Vol.91 No.9
Study of thin anodic SiO2 layers on degenerate silicon by inelastic electron tunnelling spectroscopy
G. Salace, J. Despujols Elsevier BV * North-Holland 1989 Thin Solid Films Vol.168 No.1
Tunneling spectroscopy possibilities in metal-oxide-semiconductor devices with a very thin oxide barrier
G. Salace, J.M. Patat Elsevier BV * North-Holland 1992 Thin Solid Films Vol.207 No.1-2
Inelastic electron tunnelling spectroscopy in N-MOS junctions with ultra-thin gate oxide
Petit, C., Salace, G., Vuillaume, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Solid-State Electronics Vol.47 No.10
Inelastic tunneling spectra of an alkyl self-assembled monolayer using a MOS tunnel junction as a test-bed
Petit, C., Salace, G., Lenfant, S., Vuillaume, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.80 No.-
Stress field polarity effect on defects generation in thin silicon dioxide films
El-Hdiy, A., Salace, G., Jourdain, M., Meinertzhag Elsevier 1996 Thin Solid Films Vol.296 No.1-2
Inelastic electron tunneling spectrometer to characterize metal-oxide-semiconductor devices with ultrathin oxides
Petit, C., Salace, G. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Review of scientific instruments Vol.74 No.10
Aluminum, oxide, and silicon phonons by inelastic electron tunneling spectroscopy on metal-oxide-semiconductor tunnel junctions: Accurate determination and effect of electrical stress
Petit, C., Salace, G., Vuillaume, D. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2004 Journal of Applied Physics Vol.96 No.9
The no-thermal activation of the defect generation mechanism in a MOS structure
El-Hdiy, A.,Salace, G.,Meinertzhagen, A.,Jourdain, North Holland 1995 Journal of non-crystalline solids Vol.187 No.-
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