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Explicit determination of the complex refractive index of an absorbing medium from reflectance measurements at and near normal incidence
R.M.A.Azzam The Society 1982 Journal of the Optical Society of America Vol.72 No.10
Stationary property of normal-incidence reflection from isotropic surfaces
R.M.A.Azzam The Society 1982 Journal of the Optical Society of America Vol.72 No.9
Polarized Light Reflectometer
Azzam, R. M. A. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1994 Applied Optics Vol.33 No.25
Maximum Rate of change of the differential Reflection Phase Shift with Respect to The Angle of Incidence for Light Relection at the Surface of and Absorbing Medium
Azzam, R. M. A.,El=Saba, A. M. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1996 Applied Optics Vol.35 No.1
Polarization-Preserving Single-Layer-Coated Beam Displacers and Axicons
Azzam, R.M.A.,Khan, M. Emdadur Rahman. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1982 Applied Optics Vol.21 No.18
Mapping Fresnel's Interface Reflection Coefficients Between Normal and Oblique Incidence
Azzam, R. M. A. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1980 Applied Optics Vol.19 No.19
Determination of the Optic Axis and Optical Properties of Absorbing Uniaxial Crystals by Reflection Perpendicular-Incidence Ellipsometry on Wedge Samples
Azzam, R. M. A. OSA OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 1980 Applied Optics Vol.19 No.18
Total internal reflection without change of polarization using a right-angle prism with half-wavelength-thick optical interference coating
Azzam, R.M.A. OPTICAL SOCIETY OF AMERICA 2009 Optics letters Vol.34 No.3
Ellipsometry and Polarized Light
Azzam, R. M. A.,Bashara, N. M.Ballard, Stanley S. American Institute of Physics 1978 Physics today Vol.31 No.11
Characterization of native, and adsorbed thin films on silicon detector surfaces: static and kinetic applications
Azzam, R. M. A Elsevier Sequoia 1995 Thin Solid Films Vol.270 No.1
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