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Digital Integrated Circuit Testing using Transient Signal Analysis
Plusquellic, J. unknown 1996 Proceedings of the International Test Conference Vol.- No.-
Photodissociation dynamics of jet-cooled H~2O and D~2O in the non-Franck-Condon regime: Relative absorption cross sections and product state distributions at 193 nm
Plusquellic, D. F. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 1997 The Journal of Chemical Physics Vol.107 No.16
Triangulating to a Defect's Physical Coordinates Using Multiple Supply Pad I~D~D~Qs-Test Chip Results
Plusquellic, J., Acharyya, D., Tehranipoor, M., Pa ASM International; 1998 2006 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.32 No.-
Quiescent-Signal Analysis: A Multiple Supply Pad I~D~D~Q Method
Plusquellic, J., Acharyya, D., Singh, A., Tehranip IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2006 IEEE Design & Test Vol.23 No.4
Localizing Faults in Digital Chips using Steady-State Current Measurements
Plusquellic, J. NASA 2003 NASA SYMPOSIUM ON VLSI DESIGN -CD-ROM EDITION- Vol.11 No.-
Probing nuclear quadrupole interactions in the rotationally resolved S~1←S~0 electronic spectrum of 2-chloronaphthalene
Plusquellic, D. F. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2001 The Journal of Chemical Physics Vol.115 No.1
Applications of Terahertz Spectroscopy in Biosystems
Plusquellic, D. F., Siegrist, K., Heilweil, E. J. John Wiley & Sons, Ltd 2007 ChemPhysChem Vol.8 No.17
An Automated Technique to Identify Defective CMOS Devices Based on Linear Regression Analysis of Transient Signal Data
Plusquellic, J. F., Chiarulli, D. M., Levitan, S. IEEE Computer Society Press 1998 IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON IDDQ TESTING Vol.11 No.-
The conformational structures and dipole moments of ethyl sulfide in the gas phase
Plusquellic, D. F. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2001 The Journal of Chemical Physics Vol.115 No.7
Characterization of CMOS Defects Using Transient Signal Analysis
Plusquellic, J. F., Chiarulli, D. M., Levitan, S. IEEE Computer Society Press 1998 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT T Vol.11 No.-
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