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Obreja, V. V., Obreja, A. C. John Wiley & Sons, Ltd 2010 Physica Status Solidi. A Vol.207 No.5
Heat Treatment Effects on the I-V Characteristics of Silicon Pn Junctions
Obreja, V.,Obreja, A. ECS 2002 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.1 No.-
Silicon Controlled-Avalanche Transient Voltage Suppressors of High Power Capability
Obreja, V. V. N., Lakatos, E., Obreja, A. CTU, Department of Electrotechnology 1998 INTERNATIONAL SEMINAR ON POWER SEMICONDUCTORS Vol.9 No.-
Obreja, V.,Obreja, A. Electrochemical Society 2002 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.- No.1
Preparation and patterning of nanoscale hybrid materials for micro-optics
Obreja, P., Cristea, D., Teodorescu, V.S., Dinescu INOE Publishing House 2010 JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS Vol.12 No.10
INFLUENCE OF THE SURFACE LEAKAGE CURRENT ON RELIABILITY OF POWER SILICON DEVICES OPERATED AT HIGH JUNCTION TEMPERATURE
Obreja, V. V. N., Codreanu, C., Nuttall, K. I., Bu Riga Technical Univ., 2004 INTERNATIONAL POWER ELECTRONICS AND MOTION CONTROL Vol.11 No.2
Generalized Control Limits of George Obreja Type
Gheorghe, F.-C., Obreja, G., Popescu, M.-N. Hong Kong; International Association of Engineers 2008 WORLD CONGRESS ON ENGINEERING -CD-ROM EDITION- Vol.2008 No.-
Gheorghe, F.-C., Obreja, G., Popescu, M.-N. Honk Kong; IAENG 2008 WORLD CONGRESS ON ENGINEERING Vol.2 No.-
IEC ou ARA 2 : le dilemme D'apres la communication de F. Zannad
Obreja, D. Paris; Elsevier Masson 2011 ARCHIVES DES MALADIES DU COEUR ET DES VAISSEAUX PR Vol.196//SUP1 No.-
Edge current induced failure of semiconductor PN junction during operation in the breakdown region of electrical characteristic
Obreja, V.V.N., Codreanu, C., Poenar, D., Buiu, O. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Microelectronics and reliability Vol.51 No.3
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