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Marozau, I., Shkabko, A., Dinescu, G., Dobeli, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 Applied Surface Science Vol.255 No.10
One-step preparation of N-doped strontium titanate films by pulsed laser deposition
Marozau, I., Döbeli, M., Lippert, T., Logvinovich, Springer Science + Business Media 2007 APPLIED PHYSICS A MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING Vol.89 No.4
RF-plasma assisted pulsed laser deposition of nitrogen-doped SrTiO3 thin films
Marozau, I., Shkabko, A., Dinescu, G., Döbeli, M. Springer Science + Business Media 2008 APPLIED PHYSICS A MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING Vol.93 No.3
Evolution of Technology Transfer in Belarus: Two Parallel Dimensions in a Post-Soviet Country
Marozau, Radzivon, Apanasovich, Natalja, Guerrero, KLUWER ACADEMIC PUBLISHERS 2021 INTERNATIONAL STUDIES IN ENTREPRENEURSHIP Vol.51 No.-
Reliability assessment and failure mode analysis of MEMS accelerometers for space applications
Marozau, I., Auchlin, M., Pejchal, V., Souchon, F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Microelectronics and reliability Vol.88 No.-
Influence of La and Mn vacancies on the electronic and magnetic properties of LaMnO~3 thin films grown by pulsed laser deposition (16 pages)
Marozau, I., Das, P.T., Dobeli, M., Storey, J.G., AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2014 Physical Review B Vol.89 No.17
Transport properties and thermal expansion of La2Mo2O9-based solid electrolytes
Marozau, I. P., Shaula, A. L., Kharton, V. V., Vys Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 Materials research bulletin Vol.40 No.2
Transport Properties and Thermal Expansion of SrCe(Y)O~3~-~d~e~l~t~a Ceramics
Marozau, I. P., Kharton, V. V., Frade, J. R., Marq Transtec Publications; 1999 2006 Materials Science Forum Vol.514-516 No.1
Pulsed laser deposition and characterisation of perovskite-type LaTiO"3"-"xN"x thin films
Marozau, I., Shkabko, A., Dobeli, M., Lippert, T. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Acta materialia Vol.59 No.19
Reliability assessment of miniaturised electromechanical RF relays for space applications
Marozau, I. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2022 Microelectronics and reliability Vol.138 No.-
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