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MARKWITZ, A Heyden & Son 1998 Surface and interface analysis Vol.26 No.2
Optimised process for fabricating functional silicon nanowhisker arrays
Markwitz, A., Rudolphi, M., Barry, B., Baumann, H. Elsevier 2008 Current Applied Physics Vol.8 No.3-4
Diffusion of Pb in (100) Si under electron beam annealing following dual ion implantations of Pb/Ne, Pb
Markwitz, A., Fang, F., Baumann, H., Johnson, P. B Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Vacuum Vol.84 No.9
X-ray reflectivity investigation of near-surface density changes induced in Al-Au multilayers by high-current ion beam bombardment
Markwitz, A. ELSEVIER 1998 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.143 No.3
Magmatic nickel sulfide mineralization in Zimbabwe: Review of deposits and development of exploration criteria for prospectivity analysis
Markwitz, V., Maier, W. D., Gonzalez-Alvarez, I., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Ore geology reviews Vol.38 No.3
Formation of nanoclusters with varying Pb/Se concentration and distribution after sequential Pb+ and Se+ ion implantation into SiO2
Markwitz, A., Carder, D. A., Hopf, T., Kennedy, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2012 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.273 No.-
A nuclear reaction analysis and optical microscopy study on controlled growth of large SiC nanocrystals on Si formed by low-energy ion implantation and electron beam annealing
Markwitz, A., Lucas, F., Rusterucci, J., Kennedy, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.249 No.1-2
Room temperature diamond-like carbon coatings produced by low energy ion implantation
Markwitz, A., Mohr, B., Leveneur, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2014 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.331 No.-
Group-IV and V ion implantation into nanomaterials and elemental analysis on the nanometre scale
Markwitz, A., Kennedy, J. Inderscience Enterprises Ltd 2009 INTERNATIONAL JOURNAL OF NANOTECHNOLOGY Vol.6 No.3-4
Nanostructuring at the surface of low-energy lead-implanted silicon by electron beam annealing
Markwitz, A., Davy, P., Kennedy, J., Baumann, H. John Wiley & Sons, Ltd 2008 Surface and interface analysis Vol.40 No.5
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