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Griswold, M. A., Breuer, F., Blaimer, M., Kannengi John Wiley & Sons, Ltd 2006 NMR IN BIOMEDICINE Vol.19 No.3
A New Gate Delay Model for Simultaneous Switching and Its Applications
Chen, L.-C.,Gupta, S. K.,Breuer, M. A. IEEE 2001 Design Automation Conference ... proceedings Vol.38 No.-
Defect and Error Tolerance in the Presence of Massive Numbers of Defects
Breuer, M. A., Gupta, S. K., Mak, T. M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2004 IEEE Design & Test Vol.21 No.3
A Novel Test Methodology Based on Error-Rate to Support Error-Tolerance
Lee, K.-J., Hsieh, T.-Y., Breuer, M. A. unknown 2005 Proceedings of the International Test Conference Vol.2 No.-
A Low Cost BIST Methodology and Associated Novel Test Pattern Generator
Lin, S.-P.,Gupta, S. K.,Breuer, M. A. IEEE 1994 EUROPEAN DESIGN AND TEST CONFERENCE Vol.2 No.-
A universal test and maintenance controller for modules and boards
Lien, J. C. and M. A. Breuer IEEE 1989 IEEE transactions on industrial electronics Vol.36 No.2
A methodology for custom VLSI layout
Breuer, M. A.Kumar, A. IEEE 1983 IEEE Transactions on Systems, Man and Cybernetics. Vol.SMC-13 No.4
Identification of Multiple Stuck-Type Faults in Combinational Networks
Breuer, M. A., et al. IEEE 1976 IEEE Transactions on Computers Vol.C-25 No.1
A New Paradigm for Trading Off Yield, Area and Performance to Enhance Performance per Wafer
Gao, Y., Breuer, M.A., Wang, Y. Red Hook; Curran Associates 2013 DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY- Vol.- No.3
A Survey of the State of the Art of Design Automation
M.A. Breuer , A.D. Friedman , A. Iosupovicz [Long Beach, Calif., etc.] :IEEE Computer Society. 1981 Computer Vol.14 No.10
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