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Texture, residual stress and structural analysis of thin films using a combined X-ray analysis
Lutterotti, L.,Chateigner, D.,Ferrari, S.,Ricote, Elsevier 2004 Thin Solid Films Vol.450 No.1
Microstructural characterisation of metastable structures in intermetallic compounds
Lutterotti, L.,Gialanella, S. Trans Tech Publications 1997 Materials Science Forum Vol.269-272 No.1
Micromechanic of Al~2O~3 Matrix Composites Toughened by Metallic Phases
Lutterotti, L., DiMaggio, R., Gialanella, S., Gior Pennwell Conference and Exhibition 1996 ENERGY WEEK Vol.5 No.-
Rietveld texture analysis from diffraction images
Lutterotti, L., Bortolotti, M., Ischia, G., Lonard Oldenbourg 2007 ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE -SUPPLEMENT ISSUE Vol.//SUP26 No.-
Microstructural Characterisation of Amorphous and Nanocrystalline Structures Through Diffraction Methods
Lutterotti, L.,Campostrini, R.,Di Maggio, R.,Giala Transtec Publications 2000 Materials Science Forum Vol.343-346 No.2
Rietveld texture analysis from synchrotron diffraction images. I. Calibration and basic analysis
Lutterotti, L., Vasin, R., Wenk, H.-R. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2014 POWDER DIFFRACTION Vol.29 No.1
Application of the Rietveld method to phase analysis of multilayered systems
Lutterotti, L.,Scardi, P.,Tomasi, A. Trans Tech Publications 1993 Materials Science Forum Vol.133-136 No.1
Combined X-ray diffraction and fluorescence analysis in the cultural heritage field
Lutterotti, L., Dell’Amore, F., Angelucci, D. E., Elsevier Science B.V., Amsterdam 2016 Microchemical Journal Vol.126 No.-
Texture analysis of a turbostratically disordered Ca-montmorillonite
Lutterotti, L., Voltolini, M., Wenk, H.-R., Bandyo MINERALOGICAL SOCIETY OF AMERICA 2010 The American mineralogist Vol.95 No.1
Rietveld Texture and Stress Analysis of Thin Films by X-Ray Diffraction
Lutterotti, L., Matthies, S., Chateigner, D., Ferr Transtec Publications; 1999 2002 Materials Science Forum Vol.408-412 No.2
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