RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Combining metrology techniques for in-line control of thin SiGe:B layers
Le Cunff, D., Nguyen, T., Duru, R., Abbate, F., Ho International Society for Optical Engineering (SPIE) 2014 Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS Vol.13 No.4
Iodine Doping of CdTe and CdZnTe Layers Grown by Molecular Beam Epitaxy
Brun-Le-Cunff, D.,Baron, T.,Daudin, B. American Institute of Physics 1995 Applied Physics Letters Vol.67 No.7
Ohmic Contacts on n-Type cdTe and CdZnTe Using Coherently Grown Neodymium
Cunff, D. Brun-Le,Daudin, B.,Rouviere, J. L. American Institute of Physics 1996 Applied Physics Letters Vol.69 No.4
Use of X-Ray Techniques for In-Line Control of Epitaxial Layers in Advanced FDSOI Technology
Le Cunff, D., Duru, R., Durand, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 IEEE transactions on semiconductor manufacturing Vol.30 No.4
Uniformity Control of 3-D Stacked ICs: Optical Metrology and Statistical Analysis
Le Cunff, D., Fresquet, G., Raymond, T., de Vries, IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2015 IEEE transactions on semiconductor manufacturing Vol.28 No.4
Guest Editorial Special Section on the 2020 and 2021 SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conferences
Patterson, Oliver D., Le Cunff, Delphine, Buengene IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2022 IEEE transactions on semiconductor manufacturing Vol.35 No.3
On the Fly Ellipsometry Imaging for Process Deviation Detection
Alcaire, T., Le Cunff, D., Soulan, S., Tortai, J.- IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2022 IEEE transactions on semiconductor manufacturing Vol.35 No.3
Simultaneous optical measurement of Ge content and carbon doping in strained epitaxial SiGe films
Morris, S., Le Cunff, D., Ristoiu, D., Vachellerie American Vacuum Society; 1999 2005 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.23 No.5
Control of 3D IC Process Steps by Optical Metrologies
Fresquet, G., Le Cunff, D., Raymond, Th., de Vries IMAPS; 1998 2016 Advancing microelectronics Vol.43 No.2
Simultaneous optical measurement of Ge-content and carbon doping in strained epitaxial SiGe films
Morris, S., Le Cunff, D., Ristoiu, D., Vachellerie Elsevier 2006 Applied Surface Science Vol.253 No.1
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료