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Pasquardini, L., Lunelli, L., Vanzetti, L., Anderl Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Colloids and Surfaces B Vol.62 No.2
Influence of growth parameters on the properties of ZnSe-GaAs(001) heterostructures
Vanzetti, L. ELSEVIER SCIENCE DIVISION 1995 Journal of crystal growth Vol.150 No.1-4/2
Engineering ZnSe-GaAs band offsets
L. Vanzetti, X. Yu, A. Raisanen, L. Sorba, A. Fran North-Holland Pub. Co 1992 Journal of crystal growth Vol.117 No.1-4
Correlation between silicon-nitride film stress and composition: XPS and SIMS analyses
Vanzetti, L., Barozzi, M., Giubertoni, D., Kompoch John Wiley & Sons, Ltd 2006 Surface and interface analysis Vol.38 No.4
Combined XPS, SIMS, and AFM analyses of silicon nanocrystals embedded in silicon oxide layers
Vanzetti, L., Barozzi, M., Iacob, E., Bersani, M. John Wiley & Sons, Ltd 2008 Surface and interface analysis Vol.40 No.3-4
Structural analyses of thermal annealed SRO/SiO2 superlattices
Vanzetti, L., Pucker, G., Milita, S., Barozzi, M. John Wiley & Sons, Ltd 2010 Surface and interface analysis Vol.42 No.6-7
Identification of a null allele at the Wx A1 locus in durum wheat (Triticum turgidum L. ssp. durum Desf.)
Vanzetti, L. S., Pfl ger, L., Bainotti, C. T., Je Blackwell Publishing Ltd 2010 Plant breeding Vol.129 No.6
Vanzetti, L., Bonanni, A., Bratina, G., Sorba, L. North-Holland 1995 Journal of crystal growth Vol.150 No.2
XPS and SIMS depth profiling of chlorine in high-temperature oxynitrides
Vanzetti, L., Bersani, M., Sbetti, M., Iacob, E., JOHN WILEY & SONS LTD 2002 Surface and interface analysis Vol.34 No.1
INFLUENCE OF GROWTH-PARAMETERS ON THE PROPERTIES OF ZNSE-GAAS(001) HETEROSTRUCTURES
L. Vanzetti, A. Bonanni, G. Bratina, L. Sorba, A. North-Holland Pub. Co 1995 Journal of crystal growth Vol.150 No.1-4
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