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Pt/TiN Electrodes for Stacked Memory with Polysilicon Plug Utilizing PZT Films
Kushida-Abdelghafar, K., Hiratani, M., Torii, K., Gordon and Breach 1996 Integrated ferroelectrics Vol.13 No.1-3
Development of a Salmonella Tester Strain Sensitive to Promutagenic N-Nitrosamines - Expression of Recombinant Cyp2A6 and Human NADPH-Cytochrome P450 Reductase in Salmonella-Typhimurium Yg7108
Kushida-H,Fujita-KI,Suzuki-A,Yamada-M,Nohmi-T,Kama unknown 2000 Mutation research Genetic toxicology and environm Vol.471 No.1-2
Mechanism of TiN barrier-metal oxidation in a ferroelectric random access memory
Kushida-Abdelghafar, K. MRS MATERIALS RESEARCH SOCIETY 1998 Journal of materials research Vol.13 No.11
Defect Termination by Nitrogen Bonding due to NO Nitridation in MOS Structures
Kushida-Abdelghafar, K.,Watanabe, K.,Kikawa, T.,Ka Business Center for Academic Societies 2001 SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS Vol.- No.-
Orientation control in PZT/Pt/TiN multilayers with various Si and SiO~2 underlayers for high performance ferroelectric memories
Kushida-Abdelghafar, K. American Vacuum Society; 1999 2000 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.18 No.1
An atomic model of the nitrous-oxide-nitrided SiO~2/Si interface
Kushida-Abdelghafar, K., Watanabe, K., Kikawa, T. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2002 Journal of Applied Physics Vol.92 No.5
Electrode-Induced Degradation of Pb(ZrxTi1-x)O3 Polarization Hysteresis Characteristics in Pt/PZT/Pt Ferroelectroc Thin-Film Capacitors
Kushida-Abdelghafar, Keiko.,Miki, Hiroshi.,Torii, American Institute of Physics 1996 Applied Physics Letters Vol.69 No.21
Effect of nitrogen at SiO~2/Si interface on reliability issues- negative-bias-temperature instability and Fowler-Nordheim-stress degradation
Kushida-Abdelghafar, K., Watanabe, K., Ushio, J., AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2002 Applied Physics Letters Vol.81 No.23
Ultrathin free flaps for foot reconstruction: impact on ambulation, functional recovery, and patient satisfaction
Kushida-Contreras, Beatriz Hatsue, Gaxiola-García, Informa Healthcare 2021 Journal of Plastic Surgery and Hand Surgery Vol.55 No.6
An atomic model of the nitrous-oxide-nitrided SiO
K. Kushida-Abdelghafar, K. Watanabe, T. Kikawa, Y. American Institute of Physics 2002 Journal of Applied Physics Vol.92 No.5
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