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Total Reflection X-ray Fluorescence
Kregsamer, P., Streli, C., Wobrauschek, P. unknown 2002 PRACTICAL SPECTROSCOPY SERIES Vol.29 No.-
Low Z total reflection X-ray fluorescence analysis-challenges and answers
Streli, C.,Kregsamer, P.,Wobrauschek, P.,Gatterbau Elsevier 1999 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.54 No.10
Total-reflection X-ray fluorescence analysis of Austrian wine
Gruber, X., Kregsamer, P., Wobrauschek, P., Streli Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.61 No.10-11
Gruber, X., Kregsamer, P., Wobrauschek, P., Streli Elsevier 2006 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.61 No.10
Complementarities of nuclear-based analytical techniques for the characterization of thin film technological materials
Bamford, S., Kregsamer, P., Fazinic, S., Jaksic, M Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.261 No.1-2
Analytical approaches for Hg determination in wastewater samples by means of total reflection X-ray fluorescence spectrometry
Margui, E., Kregsamer, P., Hidalgo, M., Tapias, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Talanta Vol.82 No.2
Influence of the excitation energy on absorption effects in Total Reflection X-ray Fluorescence analysis
Horntrich, C., Kregsamer, P., Smolek, S., Maderits Royal Society of Chemistry 2012 Journal of analytical atomic spectrometry Vol.27 No.2
Production of the ideal sample shape for Total Reflection X-ray Fluorescence analysis
Horntrich, C., Kregsamer, P., Prost, J., Stadlbaue Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2012 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.77 No.-
Re-installation of the total reflection X-ray fluorescence spectrometer ATOMIKA 8300W for Si wafer surface inspection at Atominstitut
Mejstrik, A., Kregsamer, P., Fugger, M., Streli, C Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.149 No.-
Recent Developments and Results in Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis
Wobrauschek, P.,Kregsamer, P.,Streli, C.,Aiginger, Plenum 1990 Advances in x-ray analysis Vol.- No.34
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