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Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality
Konczakowska, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Microelectronics and reliability Vol.48 No.1
Analysis of noise properties of an optocoupler device
Konczakowska, A., Cichosz, J., Szewczyk, A., Stawa Springer Science + Business Media 2007 OPTOELECTRONICS REVIEW Vol.15 No.3
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
Konczakowska, A., Cichosz, J., Stawarz, B. IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2005 AIP Conference Proceedings Series Vol.780 No.-
Quality and 1/f Noise of Electronic Components
Konczakowska, A. WILEY 1995 Quality and Reliability Engineering International Vol.11 No.3
1/f Noise of Electrolytic Capacitors as a Reliability Indicator
Konczakowska, A. WILEY 1998 Quality and Reliability Engineering International Vol.14 No.2
A New Method for RTS Noise of Semiconductor Devices Identification
Konczakowska, A., Cichosz, J., Szewczyk, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2008 IEEE Transactions on Instrumentation and Measureme Vol.57 No.6
1/f Noise as Indicator of Quality of Power Transistors
Konczakowska, A. The Institute 1993 AIP Conference Proceedings Series Vol.285 No.-
The Methods for RTS Noise Identification
Konczakowska, A., Stawarz-Graczyk, B. AIP American Institute of Physics 2009 AIP Conference Proceedings Series Vol.1129 No.-
Construction and research of electronic and power electronic prototype units including high temperatures units by applying the worked out components and devices
Konczakowska, A., Barlik, R., Zymmer, K. SIGMA-NOT 2006 ELEKTRONIKA -WARSAW- WYDAWNICTWA CZASOPISM TECHNIC Vol.47 No.9
Measurements and evaluation of properties of worked out SiC components, devices and prototype units according to obliging standards
Konczakowska, A., Gwarek, W., Napieralski, A., Zar SIGMA-NOT 2006 ELEKTRONIKA -WARSAW- WYDAWNICTWA CZASOPISM TECHNIC Vol.47 No.9
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