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Calcul du profil d'endommagement par une source isotrope de fragments de fission: Application aux gaines d'acier inoxydable du combustible UO2
J. Leteurtre , J.L. Pouchou , J. Soullard , L. Zup ELSEVIER 1974 JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS Vol.54 No.2
Standardless X-Ray Analysis of Bulk Specimens
Pouchou, J.-L. SPRINGER VERLAG 1994 Mikrochimica acta Vol.114-115 No.COM
X-Ray Microanalysis of Thin Surface Films and Coatings
Pouchou, J.-L. SPRINGER VERLAG 2002 Mikrochimica acta Vol.138-139 No.3-4-1-4
3D Reconstruction of Rough Surfaces by SEM Stereo Imaging
Pouchou, J.-L., Boivin, D., Beauchene, P., Le Besn SPRINGER VERLAG 2002 Mikrochimica acta Vol.138-139 No.3-4-1-4
Electron Probe X-Ray Microanalysis Applied to Thin Surface Films and Stratified Specimens
Pouchou, J. L. SCANNING MICROSCOPY INTERNATIONAL 1993 SCANNING MICROSCOPY -SUPPLEMENT- Vol.- No.7
Large-Field EBSD Mapping: Application to the Microstructure of a FSW Nugget
Pouchou, J.-L., Boivin, D., Renollet, Y., Gallais, Springer Verlag - Wien - 2004 Mikrochimica acta Vol.145 No.1-4
Pouchou, J.-L. Springer-Verlag 1993 Mikrochimica acta Vol.114--115 No.-
Use of Soft X-Rays in Microanalysis
Pouchou, J.-L. Springer 1995 Mikrochimica acta Vol.13 No.-
Contribution of EBSD to the Understanding of Massive gamma Transformation in TiAl
Pouchou, J.-L., Denquin, A., Ferrini, A. Springer Verlag - Wien - 2004 Mikrochimica acta Vol.145 No.1-4
X-Ray Microanalysis of Stratified Specimens
Pouchou, J.-L. ELSEVIER SCIENCE 1993 Analytica Chimica Acta Vol.283 No.1
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