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Heremans, J. J., Chen, H., Santos, M. B., Goel, N. IOP INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING LTD 2007 AIP Conference Proceedings Series Vol.893 No.B
Analysis of the charge pumping technique and its application for the evaluation of MOSFET degradation
Heremans, P., et al. IEEE 1989 IEEE transactions on electron devices Vol.36 No.7
Temperature dependence of the channel hot-carrier degradation of n-channel MOSFET's
Heremans, P., et al. IEEE 1990 IEEE transactions on electron devices Vol.37 No.4
Recapitulation of embryonic neuroendocrine differentiation in adult human pancreatic duct cells expressing neurogenin 3
Heremans, Y., Van De Casteele, M., Veld, P. i., Gr ROCKEFELLER UNIVERSITY PRESS 2002 The Journal of cell biology Vol.159 No.2
Efficacy of different fungicides for the control of early blight
Heremans, B., De Lange, L., Carrette, J., Haesaert UNKNOWN 2011 COMMUNICATIONS IN AGRICULTURAL AND APPLIED BIOLOGI Vol.76 No.4
Heremans, J. J., Chen, H., Santos, M. B., Goel, N. Melville, N.Y.; American Institute of Physics 2007 AIP Conference Proceedings Series Vol.883 No.A-B
Hole trapping during low gate bias, high drain bias hot-carrier injection in n-MOSFETs at 77 K
Heremans, P., et al. IEEE 1992 IEEE transactions on electron devices Vol.39 No.4
Image transcription between arrays of N-p-n-P optoelectronic switches
Heremans, P., et al. IEEE 1992 IEEE transactions on electron devices Vol.39 No.10
8/spl times
Heremans, P. L., et al. IEEE 1995 IEEE transactions on electron devices Vol.42 No.12
Spin thermal effects: A new member of the Hall family
Heremans, J. P. Nature Publishing Group 2017 Nature Materials Vol.16 No.10
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