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Optimum step-stress for temperature accelerated life testing
Gouno, E. John Wiley & Sons, Ltd 2007 Quality and Reliability Engineering International Vol.23 No.8
A survey of Weibull parameters estimation in accelerated testing
Gouno, E., Deleuze, G., Brizoux, M., Pailleux, R. unknown 1993 INTERNATIONAL CONFERENCE ON QUALITY IN ELECTRONIC Vol.6 No.-
Optimal Step-Stress Test Under Progressive Type-I Censoring
Gouno, E., Sen, A., Balakrishnan, N. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2004 IEEE transactions on reliability Vol.53 No.3
Reliability assessment with amalgamated data via the expectation-maximization algorithm
Gouno, E. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 1998 IEEE transactions on reliability Vol.47 No.4
An inference method for temperature step-stress accelerated life testing
Gouno, E. WILEY 2001 Quality and Reliability Engineering International Vol.17 No.1
Estimation from aggregate data
Gouno, E., Courtrai, L., Fredette, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Computational statistics & data analysis Vol.55 No.1
Failure Rate Estimation from Field Data under Time-Varying Stress
Gurineau, L., Gouno, E. John Wiley & Sons, Ltd 2014 Quality and Reliability Engineering International Vol.30 No.1
Typical CT Findings of Pneumatosis intestinalis and Portal Venous Air in Intestinal Necrosis
Moisidou, R., Gounos, D., Tepetes, K. S. Karger AG 2004 DIGESTIVE SURGERY -BASEL- Vol.21 No.3
Bayesian inference for Common cause failure rate based on causal inference with missing data
Nguyen, H.D., Gouno, E. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 Reliability engineering & system safety Vol.197 No.-
Maximum likelihood and Bayesian inference for common-cause of failure model
Nguyen, H.D., Gouno, E. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2019 Reliability engineering & system safety Vol.182 No.-
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