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3D analysis of solids using sputtered MCs^+ ions
Gnaser, H Springer International 1997 Fresenius' journal of analytical chemistry Vol.358 No.1
Strongly reduced fragmentation and soft emission processes in sputtered ion formation from amino acid films under large Arn+ (n - 2200) cluster ion bombardment
Gnaser, H., Ichiki, K., Matsuo, J. John Wiley & Sons, Ltd 2012 Rapid communications in mass spectrometry Vol.26 No.1
Focused-ion-beam implantation of Ga in elemental and compound semiconductors
Gnaser, H. 00 1995 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.13 No.1
Focused ion beam implantation of Ga in InP studied by SIMS and dynamic computer simulations
Gnaser, H. John Wiley & Sons, Ltd 2011 Surface and interface analysis Vol.43 No.1-2
Energy spectra of sputtered ions: assessment of the instrumental resolution
Gnaser, H. John Wiley & Sons, Ltd 2013 Surface and interface analysis Vol.45 No.1
Peptide dissociation patterns in secondary ion mass spectrometry under large argon cluster ion bombardment
Gnaser, H., Fujii, M., Nakagawa, S., Seki, T., Aok John Wiley & Sons, Ltd 2013 Rapid communications in mass spectrometry Vol.27 No.13
Detection of sputtered molecular doubly charged anions: a comparison of secondary-ion mass spectrometry (SIMS) and accelerator mass spectrometry (AMS)
Gnaser, H., Golser, R., Kutschera, W., Priller, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Applied Surface Science Vol.231-232 No.5
Sputtered ion emission under size-selected Arn+ cluster ion bombardment
Gnaser, H., Ichiki, K., Matsuo, J. John Wiley & Sons, Ltd 2013 Surface and interface analysis Vol.45 No.1
Parts-per-billion detection with electron-gas secondary-neutral mass spectrometry
Gnaser, H. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1997 Applied Surface Science Vol.120 No.3-4
Sputtered molecular fluoride anions: HfFn- and WFn-
Gnaser, H., Golser, R. John Wiley & Sons, Ltd 2011 Surface and interface analysis Vol.43 No.1-2
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