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Foreword
Ghibaudo, G., Vincent, E. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Solid-State Electronics Vol.47 No.10
Recent Findings in Electrical Behavior of CMOS High-K Dielectric/Metal Gate Stacks
Ghibaudo, G., Coignus, J., Charbonnier, M., Mitard Pennington, N.J.; Electrochemical Society 2011 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.219 No.2
A Sparse adaptive Bayesian filter for input estimation problems
Ghibaudo, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam 2022 Mechanical Systems and Signal Processing Vol.180 No.-
IMPACT OF GATE POLYSILICON INTERFACE ON CARRIER TRAPPING LOW FREQUENCY NOISE IN ADVANCED MOSFET'S
Ghibaudo, G., Jomaah, J., Balestra, F. World Scientific 2006 Fluctuation and Noise Letters Vol.6 No.4
Electrical noise and RTS fluctuations in advanced CMOS devices
Ghibaudo, G., Boutchacha, T. ELSEVIER SCIENCE 2002 Microelectronics and reliability Vol.42 No.4-5
Pectin-decorated magnetite nanoparticles as both iron delivery systems and protective matrices for probiotic bacteria
Ghibaudo, Florencia, Gerbino, Esteban, Copello, Gu Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2019 Colloids and Surfaces B Vol.180 No.-
Mechanics of cell spreading within 3D-micropatterned environments
Ghibaudo, M., DiMeglio, J. M., Hersen, P., Ladoux, Royal Society of Chemistry 2011 LAB ON A CHIP Vol.11 No.5
Analytical expressions for subthreshold swing in FDSOI MOS structures
Ghibaudo, G., Pananakakis, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Solid-State Electronics Vol.149 No.-
Influence of focus offset on the microstructure of an intermetallic γ-TiAl based alloy produced by electron beam powder bed fusion
Ghibaudo, C. ELSEVIER SCIENCE B.V., AMSTERDAM 2023 Journal of manufacturing processes Vol.89 No.-
Improved Method for the Oxide Thickness Extraction in MOS Structures with Ultrathin Gate Dielectrics
Ghibaudo, G. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2000 IEEE transactions on semiconductor manufacturing Vol.13 No.2
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