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Study of pollution in the El Jadida-Safi Atlantic coastal zone (Morocco) by using PIXE and SSNTD methods
Erramli, H., Gogon, H. D., Misdaq, M. A., Sauvage, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 JOURNAL OF ENVIRONMENTAL RADIOACTIVITY Vol.99 No.8
^2^3^8U and ^2^3^2Th concentrations in various foodstuffs in Morocco and resulting radiation doses to the members of the public
Misdaq, M.A., Elamyn, H., Erramli, H. EDITIONS DE PHYSIQUE 2008 RADIOPROTECTION Vol.43 No.2
Oxygen profiling in Czochralski-grown silicon substrates submitted to a rapid thermal annealing by using charged particles activation analysis
Erramli, H. ELSEVIER 1998 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.145 No.4
Determination of the electronic energy loss of light ions in a silicon lattice by using the transmission ion channeling method
Erramli, H. Elsevier Science; 1999 2000 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.170 No.3-4
A Monte Carlo computer code for evaluating energy loss of 10keV to 10MeV ions in amorphous silicon materials
Erramli, H., Elbounagui, O., Misdaq, M. A., Merzou Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.263 No.1
Ion chanelling
H. Erramli,G. Blondiaux ELSEVIER 1995 Applied radiation and isotopes Vol.46 No.6-7
A new method for studying the influence of thermal treatment on occupancy percentages of oxygen atoms in the (Czochralski) silicon lattice
Erramli, H. ELSEVIER 1995 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.103 No.3
Measurement of the 3He(d, p)4He nuclear reaction cross section by coincidence detection of alphas and protons: Application to the determination of the 3He desorption rate from helium bubbles in silicon
Erramli, H., Sauvage, T., Rhazi, M., Misdaq, M. A. BEST EDITION 2005 PHYSICAL AND CHEMICAL NEWS Vol.23 No.-
Study of the oxygen precipitation behaviour in silicon crystals using CPAA channelling
Erramli, H., Misdaq, M. A., Blondiaux, G., Vinante Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.211 No.1
Oxygen Profiling in Czochralski-Grown Silicon Substrates Submitted to a RTA by Using CPAA
Erramli, H.,Misdaq, M. A.,Blondiaux, G.,Madedalon- American Nuclear Society 1999 IRRMA -TOPICAL MEETING- Vol.4 No.-
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