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Elastic constants determination using the velocity of only one propagating mode: V~L, V~T or V~R
Doghmane, M., Hadjoub, I., Doghmane, A., Hadjoub, Les Ulis; EDP Sciences; 1999 2005 The European Physical Journal. Special Topics Vol.124 No.-
Approaches for evaluating Young's and shear moduli in terms of a single SAW velocity via the SAM technique
Doghmane, M., Hadjoub, F., Doghmane, A., Hadjoub, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2007 Materials Letters Vol.61 No.3
Temperature effects on surface acoustic wave velocities in TiB~2 materials
Doghmane, M., Hadjoub, F., Hadjoub, I., Doghmane, BEST EDITION 2008 PHYSICAL AND CHEMICAL NEWS Vol.41 No.-
Application of negative velocity dispersion curves to the distinction between layer and substrate Rayleigh waves
Hadjoub, Z., Touati, I., Doghmane, M., Doghmane, A Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 COMPTES RENDUS PHYSIQUE Vol.9 No.8
A novel discriminant multiscale representation for ear recognition
Doghmane, Hakim, Boukrouche, Abdelhani, Boubchir, Inderscience Enterprises 2019 International Journal of Biometrics Vol.11 No.1
Effects of nano-silicon layer thickness on surface acoustic wave velocities
Doghmane, A., Hadjoub, I., Hadjoub, Z. BEST EDITION 2008 PHYSICAL AND CHEMICAL NEWS Vol.41 No.-
Determination of an analytical relation for binding energy dependence on small size silicon nanoclusters (n~S~i ≤ 10 at.)
Doghmane, Abdellaziz, Achou, Linda, Hadjoub, Za INOE Publishing House 2016 JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS Vol.18 No.7-8
Ear recognition based on discriminant multi-resolution image representation
Doghmane, Hakim, Bourouba, Hocine, Messaoudi, Kame Inderscience Enterprises 2020 International Journal of Biometrics Vol.12 No.4
Radio Frequency Magnetron Sputtering Growth of Titanium Dioxide Thin Films: Effects of Substrate Temperature on Microstructural and Optical Properties
Doghmane, H. E., Challali, F., Touam, T., Chelouch TRANS TECH PUBLICATIONS 2021 JOURNAL OF NANO RESEARCH Vol.70 No.-
Investigation of the Influences of Post-Thermal Annealing on Physical Properties of TiO2 Thin Films Deposited by RF Sputtering
Doghmane, H. E. Springer Nature 2020 Semiconductors Vol.54 No.2
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