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Impact of series resistance on the operation of junctionless transistors
Jeon, Dae-Young, Park, So Jeong, Mouis, Mireille, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 Solid-State Electronics Vol.129 No.-
Impact of temperature-dependent series resistance on the operation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors
Jeon, Dae-Young, Koh, Yumin, Cho, Chu-Young, Park, American Institute of Physics 2021 AIP advances Vol.11 No.11
MWCNT-coated cotton yarn array for piezoresistive force and bending sensor applications in Internet of Things systems
Jeon, Dae-Young, Park, So Jeong, Lee, Tae Yoon, Ki Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2021 Sensors and actuators. A Physical Vol.332 No.P2
Channel geometry-dependent threshold voltage and transconductance degradation in gate-all-around nanosheet junctionless transistors
Jeon, Dae-Young American Institute of Physics 2021 AIP advances Vol.11 No.5
Channel-Width-Dependent Mobility Degradation in Bulk Conduction Regime of Tri-Gate Junctionless Transistors
Jeon, Dae-Young, Mouis, Mireille, Barraud, Sylvain IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2022 IEEE transactions on electron devices Vol.69 No.6
Channel width dependent subthreshold operation of tri-gate junctionless transistors
Jeon, Dae-Young, Mouis, Mireille, Barraud, Sylvain Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 Solid-State Electronics Vol.171 No.-
Separation of surface accumulation and bulk neutral channel in junctionless transistors
Jeon, Dae-Young, Jeong Park, So, Mouis, Mireille, American Institute of Physics 2014 Applied Physics Letters Vol.104 No.26
Series resistance in different operation regime of junctionless transistors
Jeon, Dae-Young, Park, So Jeong, Mouis, Mireille, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Solid-State Electronics Vol.141 No.-
Controlling the Effective Channel Thickness of Junctionless Transistors by Substrate Bias
Jeon, Dae-Young, Mouis, Mireille, Barraud, Sylvain IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 IEEE transactions on electron devices Vol.67 No.11
Impact of Channel Length on the Operation of Junctionless Transistors With Substrate Biasing
Jeon, Dae-Young, Mouis, Mireille, Barraud, Sylvain IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2021 IEEE transactions on electron devices Vol.68 No.6
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