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Cycloaddition of CO~2 and CS~2 to a Cyclic Phosphazene
Von Criegern, T. VCH PUBLISHERS 1999 HETEROATOM CHEMISTRY Vol.10 No.2
Method for the measurement of the lateral dose distribution of dopants at implantation or diffusion mask edges ("lateral SIMS")
Von Criegern, R. 00 1994 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.1
Von Criegern, R.,Jahnel, F.,Bianco, M.,Lange-Giese American Institute of Physics 1993 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.12 No.1
Recent Advances in Surface and Thin Film Analysis Methods for Application to Packaging Problems
Von Criegern, R., Budde, K., Hoesler, W., Holzapfe IEEE 1997 PROCEEDINGS OF THE ELECTRONIC PACKAGING TECHNOLOGY Vol.1 No.-
Surface Analysis for the Process and Device Characterisation in Microelectronics Mnufacturing Plants
Von Criegern, R., Jahnel, F., Scheithauer, U., Jen Surface Analysis Society of Japan 1998 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS Vol.5 No.1
Verification of "lateral secondary ion mass spectrometry" as a method for measuring lateral dopant dose distributions in microelectronics test structures
Von Criegern, R., Jahnel, F., Lange-Gieseler, R., American Institute of Physics 1998 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.16 No.1
Smoothing and Catastrophic Roughening of Mechanically Polished Silicon Surfaces by Sputtering at SIMS Conditions
Von Criegern, R., Franosch, M., Hoesler, W., Jahne Wiley 1995 SIMS Vol.10 No.-
Workshop on Whole-Wafer- and In-Line-SIMS
von Criegern, R. Elsevier 1999 SIMS Vol.12 No.-
Measurement of the Lateral Dose Distribution of Dopants at Implantation or Diffusion Mask Edges
Von Criegern, R., Jahnel, F., Bianco, M., Lange-Gi Wiley 1993 SIMS Vol.9 No.-
Cycloaddition of CO
T. von Criegern, K. Polborn, A. Schmidpeter VCH PUBLISHERS 1999 Heteroatom Chemistry Vol.10 No.2
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