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Characterization of 2D Dopant Profiles for the Design of Proton Implanted High-Voltage Superjunction
Buzzo, M., Ciappa, M., Rub, M., Fichtner, W. Piscataway, NJ:; IEEE, 2005 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE Vol.12 No.-
Two-dimensional Dopant Profiling and Imaging of 4H Silicon Carbide Devices by Secondary Electron Potential Contrast
Buzzo, M., Ciappa, M., Stangoni, M., Fichtner, W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 Microelectronics and reliability Vol.45 No.9-11
Simulation and experimental validation of scanning capacitance microscopy measurements across low-doped epitaxial PN-junction
Stangoni, M.,Ciappa, M.,Buzzo, M.,Leicht, M.,Ficht Pergamon 2002 Microelectronics and reliability Vol.42 No.9-11
On the behaviour of the selective iodine-based gold etch for the failure analysis of aged optoelectronic devices
Mura, G., Vanzi, M., Stangoni, M., Ciappa, M., Fic Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Microelectronics and reliability Vol.43 No.9-11
Lifetime prediction on the base of mission profiles
Ciappa, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 Microelectronics and reliability Vol.45 No.9-11
Editorial
Ciappa, M., Fichtner, W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 Microelectronics and reliability Vol.44 No.9-11
Extraction of Accurate Thermal Compact Models for Fast Electro-Thermal Simulation of IGBT Modules in Hybrid Electric Vehicles
Ciappa, M., Fichtner, W., Kojima, T., Yamada, Y., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 Microelectronics and reliability Vol.45 No.9-11
Plastic-strain of Aluminium Interconnections During Pulsed Operation of IGBT Multichip Modules
Ciappa, M. 00 1996 Quality and Reliability Engineering International Vol.12 No.4
Modeling the Transfer Characteristic and Harmonic Distortion Effects in Scanning Capacitance Microscopy Measurements
Ciappa, M.,Stangoni, M.,Ciampolini, L.,Malberti, P IEEE 2001 IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CO Vol.18 No.2
Modeling secondary electron images for linewidth measurement by critical dimension scanning electron microscopy
Ciappa, M., Koschik, A., Dapor, M., Fichtner, W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Microelectronics and reliability Vol.50 No.9-11
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