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Alkhafaji-MA,Cherns-D,Rossouw-CJ,Woolf-DA unknown 1992 Philosophical Magazine B Vol.65 No.3
Towards predictive modeling of near-edge structures in electron energy-loss spectra of AlN-based ternary alloys (10 pages)
Holec, D., Rachbauer, R., Kiener, D., Cherns, P.D. AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2011 Physical Review B Vol.83 No.16
Polarity determination of zinc oxide nanorods by defocused convergent-beam electron diffraction
Nicholls, D. P., Vincent, R., Cherns, D., Sun, Y. Taylor & Francis 2007 Philosophical magazine letters Vol.87 No.6
Diamond defects and the nucleation of misfit dislocations in ZnTe/GaSb
Mylonas, S.,Cherns, D.,Ashenford, D. E.,Lunn, B. Institute of Physics Publishing 1995 CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS Vol.146 No.-
Crystal structure and microstructure of solution processed Cu~2ZnSnS~4 solar cell absorber material using transmission electron microscopy
Kattan, N., Hou, B., Cherns, D., Fermin, D.J. Abingdon; The Solar Energy Society 2014 INTERNATIONAL SOLAR ENERGY SOCIETY UK SECTION -CON Vol.- No.96
Kattan, N., Hou, B., Cherns, D., Fermin, D.J. unknown 2014 UK - ISES Meeting Vol.- No.96
MULTIPLE EXACT SOLUTIONS OF ELECTRODYNAMIC 2-BODY PROBLEM WITH SPECIFIED NEWTONIAN INITIAL DATA
D. Chern, C. Li, P. Havas Published by the American Institute of Physics for the American Physical Society [etc.] 1974 Bulletin of the American Physical Society Vol.19 No.1
Sputtering in the high voltage electron microscope
Cherns, D., Minter, F.J., Nelson, R.S. North Holland Pub. Co 1976 Nuclear instruments & methods Vol.132 No.-
Characterisation of defects and piezoelectric fields in InGaN/GaN layers by transmission electron microscopy
Cherns, D. ELSEVIER 1999 Materials Science and Engineering B Vol.66 No.1-3
Characterisation of dislocations, nanopipes and inversion domains in GaN by transmission electron microscopy
Cherns, D. ELSEVIER 1997 Materials Science and Engineering B Vol.50 No.1-3
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