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Celii, F. G. IOP PUBLISHING LTD 1995 CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS Vol.141 No.-
PLASMA ETCHING AND ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF Ir/IrO~2/PZT/Ir FeRAM DEVICE STRUCTURES
Celii, F. G. 00 1999 Integrated ferroelectrics Vol.27 No.1-4
Optical diagnostic monitoring of resonant-tunneling diode growth
Celii, F. G.,Moise, T. S.,Yung-Chung, KaoKatz, A. IEEE 1995 IEEE journal of selected topics in quantum electro Vol.1 No.4
Characterization of Organic Thin Films for OLEDs Using Spectroscopic Ellipsometry
Celii, F. G. MINERALS METALS & MATERIALS SOCIETY 1997 Journal of Electronic Materials Vol.26 No.4
Celii, F. G Minerals, Metals & Materials Society and the Institute of Electrical and Electronics Engineers [etc.] 1997 Journal of Electronic Materials Vol.26 No.4
Real-Time Thickness Control of Resonant-Tunneling Diode Growth Based on Reflection Mass Spectrometry
Celii, F.G.,Harton, T.B.,Kao, Y.-C. American Institute of Physics 1995 Applied Physics Letters Vol.66 No.19
PLASMA ETCH PROCESSES FOR EMBEDDED FRAM INTEGRATION
Celii, F. G., Thakre, M., Gay, M. K., Summerfelt, Brill 2003 Integrated ferroelectrics Vol.53 No.2
Celii, F. G.,Thakre, M.,Gay, M. K.,Summerfelt, S. Taylor & Francis 2003 Integrated ferroelectrics Vol.52-59 No.-
Process characterization for tapered contact etch
Celii, F. G. American Vacuum Society; 1999 2001 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.19 No.5
Real-time monitoring of resonant-tunneling diode growth using spectroscopic ellipsometry
Celii, F. G. SLACK INCORPORATED 1995 Journal of Vacuum Science & Technology. A Vol.13 No.3/1
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