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On the Role of Extended Defects in the Transport-Properties of Er-Doped Si
Castaldini-A,Cavallini-A,Fraboni-B,Pizzini-S unknown 2000 Philosophical Magazine B Vol.80 No.4
Properties of Si nanowires as a function of their growth conditions
Cavallini, A., Carapezzi, S., Castaldini, A., Irre Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2014 Physica. B, Condensed matter Vol.439 No.-
n^+/p Diodes Realized in SiC by Phosphorus Ion Implantation: Electrical Characterization as a Function of Temperature
Canino, M., Castaldini, A., Cavallini, A., Moscate Transtec Publications; 1999 2005 Materials Science Forum Vol.483-485 No.-
Electronic Levels Induced by Irradiation in 4H-Silicon Carbide
Castaldini, A., Cavallini, A., Rigutti, L., Nava, Transtec Publications; 1999 2005 Materials Science Forum Vol.483-485 No.-
Electron-Induced Damage Effects in 4H-SiC Schottky Diodes
Castaldini, A., Cavallini, A., Nava, F., Fuochi, P Transtec Publications; 1999 2003 Materials Science Forum Vol.433-436 No.-
Characterization of Electrical Contacts on Polycrystalline 3C-SiC Thin Films
Castaldini, A., Cavallini, A., Rossi, M., Cocuzza, Transtec Publications; 1999 2005 Materials Science Forum Vol.483-485 No.-
Charge Colletion Mapping of the Back-Transfer Process in Er-Doped Silicon
Castaldini, A.,Cavallini, A.,Fraboni, B. American Institute of Physics 2000 Applied Physics Letters Vol.76 No.24
Comparison of Electrical and Luminescence Data for the A Center in CdTe
Castaldini, A.,Cavallini, A.,Fraboni, B. American Institute of Physics 1996 Applied Physics Letters Vol.69 No.23
Degradation Effects at Aluminum‐Silicon Schottky Diodes
Castaldini, A.,Cavalcoli, D.Cavallini, A. The Electrochemical Society 1998 Electrochemical and solid-state letters Vol.1 No.2
Thickness-related features observed in GaN epitaxial layers
Castaldini, A., Cavallini, A., Polenta, L. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2004 Applied Physics Letters Vol.84 No.24
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