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Image and exchange-correlation effects in double gate silicon-on-insulator transistors
Gamiz, F., Cartujo-Cassinello, P., Jimenez-Molinos Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.72 No.1-4
Influence of image force and many-body correction on electron mobility in ultrathin double gate silicon on insulator inversion layers
Gamiz, F., Cartujo-Cassinello, P., Jimenez-Molinos AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Applied Physics Letters Vol.83 No.15
Strained-Si on Si~1~-~xGe~x MOSFET Mobility Model
Roldan, J. B., Gamiz, F., Cartujo-Cassinello, P., IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2003 IEEE transactions on electron devices Vol.50 No.5
Role of surface-roughness scattering in double gate silicon-on-insulator inversion layers
F. Gámiz, J. B. Roldán, P. Cartujo-Cassinello, J. American Institute of Physics 2001 Journal of Applied Physics Vol.89 No.3
Electron transport in strained Si inversion layers grown on SiGe-on-insulator substrates
Gamiz, F., Cartujo-Cassinello, P., Roldan, J. B., AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2002 Journal of Applied Physics Vol.92 No.1
Influence of confined acoustic phonons on the electron mobility in ultrathin silicon-on-insulator layers
Gamiz, F., Cartujo-Cassinello, P., Roldan, J. B., Pennington, N.J.:; The Electrochemical Society, Inc., 2005 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.- No.3
Influence of Confined Acoustic Phonons on the Electron Mobility in Ultrathin Silicon-on-Insulator Layers
Gamiz, F., Cartujo-Cassinello, P., Roldan, J., Sam Pennington, N.J.:; Electrochemical Society, 2005 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.- No.1
Electron mobility in double gate silicon on insulator transistors: Symmetric-gate versus asymmetric-gate configuration
Gamiz, F., Roldan, J. B., Godoy, A., Cartujo-Cassi AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Journal of Applied Physics Vol.94 No.9
Electron mobility in extremely thin single-gate silicon-on-insulator inversion layers
F. Gámiz, J. B. Roldán, P. Cartujo-Cassinello, J. American Institute of Physics 1999 Journal of Applied Physics Vol.86 No.11
Remote Surface Roughness scattering in ultrathin oxide MOSFETs
Gamiz, F., Godoy, A., Jimenez-Molinos, F., Cartujo Frontier Group 2003 ESSDERC -CONFERENCE- Vol.33 No.-
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