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A physical approach on SCOBIC investigation in VLSI
Beauchene, T., Lewis, D., Beaudoin, F., Pouget, V. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Microelectronics and reliability Vol.43 No.1
Characterization of ESD induced defects using Photovoltaic Laser Stimulation (PLS)
Beauchene, T., Tremouilles, D., Lewis, D., Perdu, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Microelectronics and reliability Vol.43 No.9-11
Thermal laser stimulation and NB-OBIC techniques applied to ESD defect localization
Beauchene, T., Lewis, D., Beaudoin, F., Pouget, V. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Microelectronics and reliability Vol.43 No.3
ESD Defect Localization and Analysis Using Pulsed OBIC Techniques
Beauchene, T., Lewis, D., Tremouilles, D., Essely, Pennington, NJ.:; Electrochemical Society, 2003 PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV Vol.- No.9
Backside SC-OBIC Using a Pulsed NIR-Laser and its Application to Fault Location
Beauchene, T.,Lewis, D.,Beaudoin, F.,Perdu, P.,Fou IEEE 2002 PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE Vol.9 No.-
Single-event sensitivity of a single SRAM cell
Darracq, F., Beauchene, T., Pouget, V., Lapuyade, IEEE; 1999 2002 IEEE transactions on nuclear science Vol.49 No.3
Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
Darracq, F., Beauchene, T., Pouget, V., Lapuyade, IEEE; 1999 2002 IEEE transactions on nuclear science Vol.49 No.3/3
Front Side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing
Lewis, D., Pouget, V., Beauchene, T., Lapuyade, H. Pergamon; 1999 2001 Microelectronics and reliability Vol.41 No.9-10
Implementing laser based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, D., Pouget, V., Beaudoin, F., Beauchene, T. IEEE, 2004 Proceedings of the IEEE International Conference o Vol.- No.-
Within-individual variation of trunk and branch xylem density in tropical trees
Sarmiento, C., Patino, S., Paine, C.E.T., Beauchen BOTANICAL SOCIETY OF AMERICA,INC 2011 American journal of botany Vol.98 No.1
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