RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Wirtschaftswissenschaften und Osteuropaforschung. Grundsaetzliche Probleme und kuenftige Aufgaben seit den Umbruechen in Osteuropa
Altmann, F.-L Deutsche Verlags-Anstalt 1998 Osteuropa Vol.48 No.8-9
Der Energie-Sudkorridor
Altmann, F.-L. DEUTSCHE VERLAGS-ANSTALT GMBH 2010 OSTEUROPA WIRTSCHAFT Vol.55 No.3
3BV.3.60 A Novel Method for Solar Cell Characterization Combining Electron Beam Induced Current Imaging (EBIC) and Focused Ion Beam Techniques (FIB)
Altmann, F., Schischka, J., Van Ngo, V., Stone, S. Munich, Germany; WIP-Renewable Energies 2010 EUROPEAN PHOTOVOLTAIC SOLAR ENERGY CONFERENCE Vol.25 No.-
Failure Diagnostics for 3D System Integration Technologies in Microelectronics
Altmann, F., Schmidt, C., Brand, S., Czurratis, P. Pennington; Electrochemical Society 2010 ECS Transactions Vol.33 No.4
Combined Electron Beam Induced Current Imaging (EBIC) and Focused Ion Beam (FIB) Techniques for Thin Film Solar Cell Characterization
Altmann, F., Schischka, J., Van Ngo, V., Stone, S. ASM International; 1998 2010 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.36 No.-
Characterization and Failure Analysis of 3D Integrated Semiconductor Devices Novel Tools for Fault Isolation, Target Preparation and High Resolution Material Analysis
Altmann, F., Petzold, M., Schmidt, C., Salzer, R. ASM International; 1998 2010 INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE AN Vol.36 No.-
Mathias Weber Das Web-Adressbuch fur Deutschland 2010
Altmann, F.-L. DEUTSCHE VERLAGS-ANSTALT GMBH 2010 OSTEUROPA WIRTSCHAFT Vol.55 No.4
Altmann, F., Schmidt, C., Brand, S., Czurratis, P. Pennington, NJ; Electrochemical Society 2010 Meeting Abstracts- Electrochemical Society Vol.- No.218
Democracy and good governance in the Black Sea region
Altmann, F. L., Deimel, J., Schmidt, A. G. Taylor & Francis 2010 JOURNAL OF SOUTHEAST EUROPEAN AND BLACK SEA STUDIE Vol.10 No.3
Emerging Techniques for 3-D Integrated System-in-Package Failure Diagnostics
Altmann, F., Petzold, M. ASM INTERNATIONAL 2012 ELECTRONIC DEVICE FAILURE ANALYSIS Vol.14 No.2
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료