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Van Aert, S., Van den Broek, W., Goos, P., Van Dyc Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2012 MICRON Vol.43 No.4
Throughput maximization of particle radius measurements through balancing size versus current of the electron probe
Van den Broek, W., Van Aert, S., Goos, P., Van Dyc Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Ultramicroscopy Vol.111 No.7
Optimal experimental design of STEM measurement of atom column positions
Van Aert, S., den Dekker, A. J., Van Dyck, D., van ELSEVIER 2002 Ultramicroscopy Vol.90 No.4
Fully Automated Measurement of the Modulation Transfer Function of Charge-Coupled Devices above the Nyquist Frequency
Van den Broek, W., Van Aert, S., Van Dyck, D. Cambridge University Press 2012 Microscopy and Microanalysis Vol.18 No.2
A model based atomic resolution tomographic algorithm
Van den Broek, W., Van Aert, S., Van Dyck, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 Ultramicroscopy Vol.109 No.12
Is atomic resolution transmission electron microscopy able to resolve and refine amorphous structures?
Van Dyck, D., Van Aert, S., den Dekker, A. J., van Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2003 Ultramicroscopy Vol.98 No.1
Design aspects for an optimum DF STEM probe
Van Aert, S.,Dekker, A. J. d.,Van Dyck, D.,van den Czechoslovak Society for Electron Microscopy 2000 PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN CONGRESS ON ELECTRON M Vol.12 No.3
A model based reconstruction technique for depth sectioning with scanning transmission electron microscopy
Van den Broek, W., Van Aert, S., Van Dyck, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 Ultramicroscopy Vol.110 No.5
How to Select the Items for the Shopping List of Future High Resolution Electron Microscopists?
Van Dyck, D.,Van Aert, S.,Dekker, A. d.,van den Bo Cambridge University Press 2002 Microscopy and Microanalysis Vol.8//SUP2 No.-
High-resolution electron microscopy and electron tomography: resolution versus precision
Van Aert, S., Dekker, A. J. d., Van Dyck, D., van ACADEMIC PRESS INC 2002 Journal of structural biology Vol.138 No.1-2
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