RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Characterization of thin layers by X-ray reflectometry
Zymierska, D., Sobczak, E., Godwod, K., Miotkowska World Scientific 1997 APPLIED CRYSTALLOGRAPHY -CONFERENCE- Vol.8 No.-
Comparative Studies of the Surface Roughness of GaAs Single Crystals by Computer Simulation and Experimental X-Ray and Optical Methods
Zymierska, D., Dmitruk, N., Auleytner, J., Domagal unknown 1996 ASDAM -INTERNATIONAL CONFERENCE- Vol.10 No.-
Comparative Study of the Surface Roughness by AFM and GIXR
Zymierska, D. ACADEMIC VERLAG GMBH 2000 Physica Status Solidi. A Vol.180 No.2
X-ray diffractometric study of polycrystalline precipitates within a single crystal matrix
Zymierska, D., Godwod, K., Auleytner, J. IOP PUBLISHING LTD 2003 Journal of Physics. D, Applied Physics Vol.36 No.10-1
Fine Diffraction Effects in Si Single Crystals Implanted with Fast Ar Ions and Annealed
Zymierska, D., Godwod, K., Adamczewska, J., Auleyt POLISH ACADEMY OF SCIENCES WARSAW 2002 Acta Physica Polonica A Vol.101 No.5
Determination of Surface Roughness by Grazing Incidence X-ray Reflectivity
Zymierska, D. Polish Academy of Sciences, Institute of Physics 1996 Acta Physica Polonica A Vol.89 No.3
Comparative Studies of Surface Roughness of Thin Epitaxial Si Films by Computer Simulations and Experimental X-ray and Optical Methods
Zymierska, D. POLISH ACADEMY OF SCIENCES WARSAW 1997 Acta Physica Polonica A Vol.91 No.5
Nanostructure of Thin Gold Films Investigated by Means of Atomic Force Microscopy and X-ray Reflectometry Methods
Zymierska, D., Auleytner, J., Domagala, J., Kobiel POLISH ACADEMY OF SCIENCES WARSAW 2002 Acta Physica Polonica A Vol.102 No.2
Surface roughness of Si crystals with SiO~2 overlayer
Zymierska, D.,Auleytner, J.,Domagala, J.,Miotkowsk World Scientific 2001 APPLIED CRYSTALLOGRAPHY -CONFERENCE- Vol.18 No.-
Application of X-rays to the Study of the Surface Roughness
Zymierska, D. VCH VERLAGSGESELLSCHAFT 1997 Crystal research and technology Vol.32 No.1
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료