RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
BIST Power Reduction Using Scan-Chain Disable in the Cell Processor
Zoellin, C., Wunderlich, H.-J., Maeding, N., Leens unknown 2006 Proceedings of the International Test Conference Vol.2 No.-
Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality ssurance
Hellebrand, S., Zoellin, C.G., Wunderlich, H.J., L MIDEM; 1999 2007 INFORMACIJE MIDEM -LJUBLJANA- Vol.37 No.4
Test Exploration and Validation Using Transaction Level Models
Kochte, M.A., Zoellin, C.G., Imhof, M.E., Khaligh, New York; Curran 2009 DATE Vol.3 No.-
SYSTEM RELIABILITY EVALUATION USING CONCURRENT MULTI-LEVEL SIMULATION OF STRUCTURAL FAULTS
Kochte, M.A., Zoellin, C.G., Baranowski, R., Imhof Piscataway; IEEE 2010 Proceedings of the International Test Conference Vol.- No.-
Scan Test Planning for Power Reduction
Imhof, M. E., Zoellin, C. G., Wunderlich, H.-J., M ACM/ IEEE 2007 Design Automation Conference ... proceedings Vol.44 No.2
Imhof, M. E., Zoellin, C. G., Wunderlich, H.-J., M Piscataway, N.J.; IEEE 2007 Design Automation Conference ... proceedings Vol.1964-2007 No.-
Efficient Concurrent Self-Test with Partially Specified Patterns
Kochte, M. A., Zoellin, C. G., Wunderlich, H. J. Springer Science + Business Media 2010 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING Vol.26 No.5
Programmable Deterministic Built-in Self-test
Hakmi, A.-W., Wunderlich, H.-J., Zoellin, C.G., Gl unknown 2007 Proceedings of the International Test Conference Vol.1 No.-
Scan Chain Clustering for Test Power Reduction
Elm, M., Wunderlich, H.-J., Imhof, M.E., Zoellin, ACM/ IEEE 2008 Design Automation Conference ... proceedings Vol.45 No.2
Efficient Fault Simulation on Many-Core Processors
Kochte, M.A., Schaal, M., Wunderlich, H., Zoellin, ACM/ IEEE 2010 Design Automation Conference ... proceedings Vol.47 No.-
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료