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Kim, Sungtae, Kim, Yangjin, Hibino, Kenichi, Sugit Elsevier Science B. V., Amsterdam 2021 OPTIK -STUTTGART- Vol.247 No.-
Light-Induced Anisotropic Morphological Dynamics of Black Phosphorus Membranes Visualized by Dark-Field Ultrafast Electron Microscopy
Kim, Ye-Jin, Lee, Yangjin, Kim, Kwanpyo, Kwon, Oh- AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 2020 ACS NANO Vol.14 No.9
Surface measurement of silicon wafer using harmonic phase-iterative analysis and wavelength-scanning Fizeau interferometer
Kim, Sungtae, Kim, Yangjin, Sugita, Naohiko, Mitsu Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2022 Precision engineering Vol.75 No.-
Fringe analysis for thickness estimation of optical glass plate using Fizeau interferometer
Jeon, Jurim, Kim, Yangjin, Kim, Sungtae, Hibino, K Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2022 Optics communications Vol.513 No.-
Commensurate Assembly of C60 on Black Phosphorus for Mixed‐Dimensional van der Waals Transistors
Yun, Tae Keun, Lee, Yangjin, Kim, Min Je, Park, Je John Wiley & Sons, Ltd 2022 Small Vol.18 No.10
Single-step synthesis of wrinkled MoSe2 thin films
Yang, Seung Jun, Lee, Yangjin, Kim, Jin Hong, Kim, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2019 Current Applied Physics Vol.19 No.3
Anomalous Dimensionality‐Driven Phase Transition of MoTe2 in Van der Waals Heterostructure
Ryu, Huije, Lee, Yangjin, Kim, Hyun‐Jung, Kang, Se John Wiley & Sons, Ltd 2021 Advanced Functional Materials Vol.31 No.51
Thickness profiling of transparent plate using wavelength-tuned phase-shifting analysis
Kim, Yangjin, Moon, Younghoon, Hibino, Kenichi, Mi Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 MEASUREMENT -LONDON- Vol.161 No.-
Correction to: Statistical and interferometric determination of the optical thickness of a multilayer transparent plate
Kim, Yangjin, Hibino, Kenichi Springer Nature 2018 OPTICAL REVIEW Vol.26 No.1
Measurement of highly reflective surface shape using wavelength tuning Fizeau interferometer and polynomial window function
Kim, Yangjin, Sugita, Naohiko, Mitsuishi, Mamoru Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Precision engineering Vol.45 No.-
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