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Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis with Synchrotron Radiation and Other Sources for Trace Element Determination
Wobrauschek, P., Streli, C. AIP Press 1996 AIP Conference Proceedings Series Vol.389 No.-
Total Reflection X-ray Fluorescence attachment module modified for analysis in vacuum
Wobrauschek, P., Streli, C., Kregsamer, P., Meirer Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.63 No.12
A novel vacuum spectrometer for total reflection x-ray fluorescence analysis with two exchangeable low power x-ray sources for the analysis of low, medium, and high Z elements in sequence
Wobrauschek, P., Prost, J., Ingerle, D., Kregsamer American Institute of Physics 2015 Review of scientific instruments Vol.86 No.8
A novel vacuum spectrometer for total reflection x-ray fluorescence analysis with two exchangeable low power x-ray sources for the analysis of low, medium, and high Z elements in sequence (6 pages)
Wobrauschek, P., Prost, J., Ingerle, D., Kregsa AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2015 Review of scientific instruments Vol.86 No.8
Recent Developments and Results in Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis
Wobrauschek, P.,Kregsamer, P.,Streli, C.,Aiginger, Plenum 1990 Advances in x-ray analysis Vol.- No.34
MICRO XRF OF LIGHT ELEMENTS USING A POLYCAPILLARY LENS AND AN ULTRA THIN WINDOW SILICON DRIFT DETECTOR INSIDE A VACUUM CHAMBER
Wobrauschek, P., Frank, B., Zoeger, N., Streli, C. Newtown Square, Pa.:; International Centre for Diffraction Data, 2005 ADVANCES IN X RAY ANALYSIS -CD-ROM EDITION- Vol.48 No.-
Analysis of Ni on Si-wafer surfaces using synchrotron radiation excited total reflection X-ray fluorescence analysis
Wobrauschek, P. ELSEVIER 1997 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.52 No.7
Wobrauschek, P Pergamon Press 1997 Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy Vol.52 No.7
Use of Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis in the Life Sciences
Wobrauschek, P. Humana Press 1994 Biological trace element research Vol.43-45 No.-
Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis (TXRF) using the high flux SAXS camera
Wobrauschek, P., Streli, C., Pepponi, G., Bergmann ELSEVIER 2002 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.482 No.1-2
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