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Flash pyrolysis of cellulose for production of anhydro-oligomers
J. Piskorz, P. Majerski, D. Radlein, A. Vladars-Us ELSEVIER 2000 JOURNAL OF ANALYTICAL AND APPLIED PYROLYSIS Vol.56 No.2
Laser sample stage-based image resolution enhancement method for SEMs [5375-181]
Vladar, A. E., Jayewardene, E. C., Damazo, B. N., International Society for Optical Engineering; 1999 2004 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.5375 No.2
Accurate and traceable dimensional metrology with a reference CD-SEM [6922-16]
Vladar, A.E., Villarrubia, J.S., Cizmar, P., Oral, International Society for Optical Engineering; 1999 2008 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.6922 No.1
Nano-tip Electron Gun for the Scanning Electron Microscope
Vladar, A., Radi, Z., Postek, M., Joy, D. SPRINGER 2005 Microscopy and Microanalysis Vol.11//SUP2 No.-
Electron Beam-Induced Sample Contamination in the SEM
Vladar, A., Postek, M. SPRINGER 2005 Microscopy and Microanalysis Vol.11//SUP2 No.-
10nm three-dimensional CD-SEM metrology [9050-9]
Vladar, A.E., Villarrubia, J.S., Chawla, J., Ming, International Society for Optical Engineering; 1999 2014 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.9050 No.1
The growth of mobile social networking in the US
Vladar, A., Fife, E. HC PUBLISHES 2010 INTERMEDIA -LONDON- Vol.38 No.3
Scanning Electron and Ion Microscope-based Size and Shape Metrology at the Nanometer Scale
Vladar, A.E., Cizmar, P., Postek, M.T. Cambridge University Press 2008 Microscopy and Microanalysis Vol.14//SUP2 No.-
Can we get 3D-CD metrology right? (Keynote Paper) [8324-01]
Vladar, A.E., Cizmar, P., Villarrubia, J.S., Poste International Society for Optical Engineering; 1999 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8324 No.1
SEM mask and wafer CD metrology at NIST
Vladar, A. PTB, 2003 PTB BERICHT F- PHYSIKALISCH TECHNISCHE BUNDESANSTA Vol.- No.48
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