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Electrically Active and Inactive B Lattice Sites in Ultrahighly B Doped Si(001): An X-Ray Near-Edge Absorption Fine-Structure and High-Resolution Diffraction Study
Vailionis, A American Physical Society 1999 Physical Review Letters Vol.82 No.22
Symmetry and lattice mismatch induced strain accommodation near and away from correlated perovskite interfaces
Vailionis, A., Boschker, H., Liao, Z., Smit, J. R. American Institute of Physics 2014 Applied Physics Letters Vol.105 No.13
Symmetry and lattice mismatch induced strain accommodation near and away from correlated perovskite interfaces (5 pages)
Vailionis, A., Boschker, H., Liao, Z., Smit, J.R.A AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2014 Applied Physics Letters Vol.105 No.13
Misfit strain accommodation in epitaxial ABO~3 perovskites: Lattice rotations and lattice modulations (10 pages)
Vailionis, A., Boschker, H., Siemons, W., Houwman, AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2011 Physical Review B Vol.83 No.6
Superconducting Multilayers: Microstructural Properties Studied by X-ray Diffraction
Vailionis, A.,Brazdeikis, A.,Flodstroem, A. S. Materials Research Society 1995 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.382 No.-
Cation disorder in superconducting HgBa2CaCu2O6+d films prepared on SrTiO3 substrates
Vailionis, A. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1999 Physica. C, Superconductivity Vol.328 No.1-2
Cation disorder in superconducting HgBa"2CaCu"2O"6"+"@d films prepared on SrTiO"3 substrates
Vailionis, A. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1999 Physica. C, Superconductivity Vol.328 No.1
Anisotropic stress relief mechanism in epitaxial La~0~.~6~7Sr~0~.~3~3MnO~3 films (3 pages)
Vailionis, A., Boschker, H., Houwman, E., Koster, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2009 Applied Physics Letters Vol.95 No.15
Microstructural properties of Bi~2Sr~2Ca~n~-~1Cu~nO~y multilayers grown by molecular beam epitaxy
Vailionis, A. AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 1996 Physical Review B Vol.54 No.21
Growth-kinetics-induced structural disorder in Bi~2(Sr~1~-~xCa~x)~3Cu~2O~y thin films studied by x-ray diffraction
Vailionis, A. AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 1995 Physical Review B Vol.51 No.5
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