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A Novel 2-Bit/Cell MONOS Memory Device with a Wrapped-Control-Gate Structure that Applies Source-Side Hot-Electron Injection
Tomiye, H., Terano, T., Nomoto, K., Kobayashi, T. unknown 2002 SYMPOSIUM ON VLSI TECHNOLOGY Vol.- No.2002
Nanometer-Scale Characterization of SiO₂/Si with a Scanning Capacitance Microscope
Tomiye, Hideto,Yao, Takafumi,Kawami, Hiroshi American Institute of Physics 1996 Applied Physics Letters Vol.69 No.26
Scanning capacitance microscope study of a SiO~2/Si interfacemodified by charge injection (07.79.-v; 73.40.Qv; 84.37.+q)
Tomiye, H.,Yao, T. Springer 1997 APPLIED PHYSICS A MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING Vol.66//SUP No.1
Nanometer-scale characterization of lateral p-n^+ junction by scanning capacitance microscope
Tomiye, H.,Yao, T. North-Holland 2000 Applied Surface Science Vol.159-160 No.-
Novel 2-Bit/Cell Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor Memory Device with Wrapped-Control-Gate Structure That Achieves Source-Side Hot-Electron Injection
Tomiye, H., Terano, T., Nomoto, K., Kobayashi, T. Japanese Journal of Applied Physics; 1999 2005 Japanese Journal of Applied Physics Vol.44 No.7A
Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor Memory Device with One-Side Halo Implantation to Enable Low-Voltage Operation Using Hot-Carrier Injection
Tomiye, H., Nomoto, K., Koyama, K., Kobayashi, T. Japanese Journal of Applied Physics; 1999 2005 Japanese Journal of Applied Physics Vol.44 No.9A
Scanning capacitance microscope study of a SiO~2/Si interfacemodified by charge injection
Tomiye, H. SPRINGER-VERLAG 1998 APPLIED PHYSICS A MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING Vol.66//SUP1 No.-
Tomiye, H.,Terano, T.,Nomoto, K.,Kobayashi, T. Widerkehr and Associates 2002 SYMPOSIUM ON VLSI TECHNOLOGY Vol.- No.-
Nanometer-scale characterization of lateral p-n+ junction by scanning capacitance microscope
Tomiye, H. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 2000 Applied Surface Science Vol.159-160 No.-
Characterization of SiO~2/Si with a novel scanning capacitance microscope combined with an atomic force microscope
Tomiye, H. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1997 Applied Surface Science Vol.117-118 No.-
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