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Tracking Deep Sediment Underplating in a Fossil Subduction Margin: Implications for Interface Rheology and Mass and Volatile Recycling
Tewksbury‐Christle, C. M., Behr, W. M., Helper, M. John Wiley & Sons Ltd 2021 Geochemistry, geophysics, geosystems Vol.22 No.3
The aggregate behavior of branch points: the use of branch point pairing to generate a hidden phase for closed-loop AO [7466-06]
Tewksbury-Christle, C.M., Oesch, D.W., Sanchez, D. International Society for Optical Engineering; 1999 2009 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.7466 No.-
Trimming and Thinning White Pine Wood Lots.
TEWKSBURY American Periodicals Series II 1850 Massachusetts Ploughman and New England Journal of Vol.9 No.21
TRIMMING TREES.
TEWKSBURY American Periodicals Series II 1850 Massachusetts Ploughman and New England Journal of Vol.9 No.17
ANOTHER DESPATCH FROM TEWKSBURY.
JEREMIAH TEWKSBURY American Periodicals Series II 1848 The John - Donkey (1848-1848) Vol.1 No.8
Constraints From Exhumed Rocks on the Seismic Signature of the Deep Subduction Interface
C. M. Tewksbury‐Christle wiley 2021 Geophysical Research Letters Vol.48 No.18
Aggregate behavior of branch points: characterization in wave optical simulation
Oesch, D.W., Tewksbury-Christle, C.M., Sanchez, D. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2012 Optical Engineering Vol.51 No.10
The aggregate behavior of branch points: verification in wave optical simulation I [8380-24]
Oesch, D.W., Tewksbury-Christle, C.M., Sanchez, D. International Society for Optical Engineering; 1999 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8380 No.-
The aggregate behavior of branch points: verification in wave optical simulation II [8520-2]
Oesch, D.W., Tewksbury-Christle, C.M., Sanchez, D. International Society for Optical Engineering; 1999 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8520 No.-
The aggregate behavior of branch points: altitude and strength of atmospheric turbulence layers [7816-04]
Oesch, D.W., Sanchez, D.J., Tewksbury-Christie, C. International Society for Optical Engineering; 1999 2010 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.7816 No.-
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